블로그
로딩 중...
연산
시험 전략
스트리밍 스캔 네트워크 및 IEEE 1149.10을 활용한 고속 스캔 테스트: ITC 2021
첨단 공정으로 인해 테스트 과정에서 데이터가 급증하고 있어, 더 빠른 속도로 테스트를 수행할 수 있는 새로운 접근 방식이 요구되고 있습니다. 테라다인(Teradyne)의 제품 마케팅 매니저인 에드 셍(Ed Seng)이 이에 대한 개요를 소개합니다...
연산
시험 전략
이미지 센서 장치에서 공간적 얼룩 감지: SemiCon West 2021
이미지 센서 장치에서 가장 흔히 나타나는 결함 중 하나는 공간적 얼룩 현상입니다. 이미지 센서에 얼룩이 생기는 것은 흔히 발생하는 현상이며, 내부 이동에 의해 발생할 수 있습니다...
시험 전략
무선
5G 밀리미터파에서 6G 테라헤르츠까지: RF 테스트의 과제: SemiCon West 2021
모바일 네트워크 세대의 각 ‘G’가 이전 세대를 뒤따르는 데 약 8년이 걸리는 점을 고려할 때, 우리는 새로운 6G 테라헤르츠(THz) 테스트 과제에 직면하기까지 불과 5년 정도밖에 남지 않았습니다. 그리고...
연산
반도체 테스트 – 나노 디바이스 시대를 선도하다: SemiCon West 2021
반도체 제조 공정에서 엔지니어들은 끊임없이 혁신을 거듭하며, 더 작은 트랜지스터와 더 고밀도인 회로를 구현하고 있습니다. 핀펫(FinFET) 기술로의 전환을 통해 7nm 및 5nm 공정이 가능해졌습니다...
자동차
전력
광대역갭 반도체의 문제점: SemiCon West 2021
재택근무 인구의 급격한 증가와 xEV에 대한 수요 증가는 소비자용 및 자동차 제품 분야에서 광대역 갭 반도체의 도입을 가속화했으며, 이에 따라 새로운 테스트...
자동차
연산
전력
무선
병렬 테스트에서의 사이트 간 변동
웨이퍼 테스트부터 시스템 레벨 테스트에 이르기까지, 병렬 테스트 실행은 비용 절감을 비롯한 상당한 이점을 제공하지만, 경영진에게 제시하는 그 파워포인트 슬라이드만큼 간단하지는 않습니다...