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運算
測試策略
採用串流掃描網路與 IEEE 1149.10 標準進行高速掃描測試：ITC 2021
先進製程正推動測試數據的快速增長，這需要採用新的方法來進行更高速度的測試。泰瑞達（Teradyne）的產品行銷經理 Ed Seng 將為您概述...
運算
測試策略
偵測影像感測器裝置中的空間斑點：2021 年 SemiCon West
影像感測器裝置中最常見的缺陷之一是空間斑點。影像感測器中出現斑點是常有的現象，可能是由內部移動所產生……
測試策略
無線
從 5G 毫米波到 6G 太赫茲：射頻測試的挑戰：2021 年 SemiCon West
由於行動網路的每一代「G」技術約需八年時間才能接續前一代，距離我們面臨新的 6G 太赫茲測試挑戰，僅剩約五年時間。而鑑於……
運算
半導體測試——引領奈米裝置發展：2021年西部半導體展
在半導體製造過程中，工程師們持續進行創新，使電晶體體積更小、電路密度更高。轉向 FinFET 技術，使得 7 奈米與 5 奈米製程得以實現……
汽車
電力
寬禁帶半導體的難題：2021 年 SemiCon West 會議
隨著居家辦公人數激增以及對 xEV 的需求上升，消費性電子產品和汽車產品中採用寬禁帶半導體的步伐已大幅加快，並帶來了新的測試...
汽車
運算
電力
無線
平行試驗中的站點間差異
從晶圓到系統層級測試，並行測試執行能帶來顯著效益，包括降低成本，但實際情況絕非您向管理層展示的那張 PowerPoint 簡報那般簡單……