생산 기판 테스트

Scan Pathfinder II 솔루션은 표준 TestStation 드라이버/센서 핀을 사용하여 경계 스캔 TAP(Test Access Port) 핀(TDI, TMS, TCK, TDO, TRST)을 구동하고 감지합니다. 경계 스캔 벡터 데이터는 TestStation의 UltraPin 기판 핀 메모리에 저장됩니다.

TAP 핀에 연결되는 네트는 네일로 고정되어야 하며 디지털 테스트 기능을 갖춰야 합니다(아날로그 전용 핀 기판에 연결할 수 없음). 애플리케이션에 단일 스캔 체인이 있는 경우 필요에 따라 TCK 핀을 테스터 클록 드라이버 네일에 연결할 수 있습니다. 이렇게 하면 성능이 더 빨라지고 테스트 벡터가 줄어듭니다.

Scan Pathfinder II 소프트웨어는 Windows 7 운영 체제를 실행 중인 TestStation 7.1 이상 버전의 소프트웨어 릴리스에서 사용할 수 있습니다.

원래의 Scan Pathfinder는 IEEE Std.에 정의된 경계 스캔 기능을 지원하도록 설계되었습니다. 1149.1. IEEE Std. 1149.6 표준은 원래의 표준을 확장하고 고급 I/O 기능을 통합하는 효율적인 경계 스캔 부품 테스트를 지원하도록 2003년에 승인되었습니다.

Scan Pathfinder II는 IEEE 1149.1 표준 및 1149.6 표준을 모두 지원하는 소프트웨어의 새 수정 버전으로, 차동 신호의 결함 마스킹 효과와 AC 커플링 신호의 DC 차단 효과에도 불구하고 PCB에서 상호 연결 결함을 빠르고 정확하게 감지 및 진단할 수 있도록 설계되었습니다.

Scan Pathfinder II 소프트웨어에는 다음과 같은 개선 사항이 포함되어 있습니다.

• Windows 7 운영 체제에 대한 지원
• 1149.6 네트의 커패시터에 대한 단락된 캡 결함 감지 테스트
• 더 빠른 실행을 위해 간소화된 벡터 생성 알고리즘
• 업데이트된 테스트 생성 사용자 인터페이스
• 보다 포괄적인 진단 및 결함 검출률 보고서
• 테스트 생성기를 제어하는 새로운 사용자 옵션
  • 테스트 이외 노드의 사양
  • 상호 작용 및 단선 테스트를 위해 강제로 노드를 그룹화하는 기능
  • 양방향 핀을 테스트하는 방법에 대한 제어 옵션
  • 버스트당 사용되는 네일 수를 제한하는 새로운 기본 설정
  • ASSIGN LGC 문 로직 수준의 자동 포함
• 업데이트된 제품 설명서 및 온라인 도움말

Scan Pathfinder II는 경계 스캔 구성 요소가 있는 PCB에서 구조적 결함 및 구성 요소 결함을 모두 감지할 수 있도록 고안된 테스트를 제공합니다.

• 하드웨어 테스트 – 경계 스캔 TAP(Test Access Port)와 관련 테스트 레지스터가 올바르게 작동하고 있는지 확인하기 위해 실행하는 테스트 모음입니다. 이러한 테스트는 모든 TMS, TDI, TDO, TCK, TRST 핀이 작동하고 있는지, 스캔 경로를 통해 데이터를 이동할 수 있는지, 명령 및 경계 레지스터의 길이가 정확한지를 확인합니다. 다른 경계 스캔 테스트를 실행하려면 먼저 하드웨어 테스트를 통과해야 합니다.
• IDcode/Usercode 테스트– 경계 스캔 디바이스 BSDL 파일에 나열된 IDCODE 및 USERCODE 값이 기판상의 디바이스의 값과 일치하는지 확인하는 선택적 테스트입니다.
• 상호 작용 테스트– 네일로 고정된 비경계 스캔 네트와 네일로 고정되지 않은 경계 스캔 네트 사이의 단락을 감지하는 것이 목적인 선택적 테스트입니다. 이 테스트는 패턴을 사용해 네일로 고정된 비경계 스캔 네트를 구동하고, 이로 인해 네일로 고정되지 않은 경계 스캔 네트에서 구동되는 패턴과의 부정적인 상호 작용이 야기되지 않는지 확인합니다. 각 비경계 스캔 디바이스에 대해 하나 이상의 상호 작용 테스트가 생성되지만, 사용자는 상호 작용 테스트 버스트 중에 사용할 최대 네일 수를 제어할 수 있습니다.
• 단선 테스트 – 테스트 시스템에서 드라이버/센서 네일을 사용하여 테스트 액세스가 있는 경계 스캔 핀의 단선을 감지하는 선택적 테스트입니다. 각 경계 스캔 디바이스에 대해 하나 이상의 단선 테스트가 생성되지만, 사용자는 단선 테스트 버스트 중에 사용할 최대 네일 수를 제어할 수 있습니다.
• 상호 연결 테스트 – 네일로 고정되지 않은 경계 스캔 네트 사이에서 단선 및 단락을 감지하는 것이 주된 목적인 선택적 테스트입니다. 상호 연결 테스트에는 단일 종단 신호 및 차동 신호뿐만 아니라 1149.1 및 1149.6 연결도 포함되며, 네일로 고정된 외부 경계 스캔 입력 및 출력 노드도 포함될 수 있습니다(기판에서 분리되는 단일 경계 스캔 입력 또는 출력 핀이 있는 네트). 상호 연결 테스트에 포함할 네일로 고정된 노드의 수는 테스트 개발자가 제어할 수 있습니다.
• 단락된 CAP 테스트– 1149.6 AC 커플링 노드 사이에서 단락된 커패시터 결함을 감지할 수 있도록 고안된 선택적 테스트입니다.
• RUNBIST 테스트 – 경계 스캔 디바이스 BSDL 파일과 관련하여 기본으로 제공되는 자체 테스트 명령을 실행하는 선택적 테스트입니다.
  
  최상의 결과를 얻기 위해 생성할 경계 스캔 테스트는 주로 PCB 구성, 사용 가능한 테스터 액세스 및 전체 제조 테스트 전략에 따라 달라집니다.

Scan Pathfinder는 Teradyne의 제한된 액세스 경계 스캔 테스트 솔루션입니다. Scan Pathfinder는 독립적인 경계 스캔 테스트 생성 소프트웨어를 사용해 회로 및 BSDL 파일을 자동으로 분석하고 경계 스캔 부품과 그러한 부품이 상호 연결되는 방식을 결정합니다. 그런 다음, Teradyne의 표준 소프트웨어 및 인스투르먼트를 사용하여 적절한 하드웨어, 단선, 상호 작용, 상호 연결 및 BIST 테스트를 생성합니다.

Teradyne의 Scan Pathfinder II 네이티브 경계 스캔 솔루션의 이점은 다음과 같습니다.

• 개발자와 제조업체가 추가 소프트웨어 또는 하드웨어를 설치할 필요가 없습니다. Scan Pathfinder는 Teradyne의 표준 ICT 개발 소프트웨어에 내장되어 있습니다.
• Scan Pathfinder는 회로 내 테스터 네일과 경계 스캔 가상 네일을 함께 사용하여 테스트 커버리지와 반복성을 극대화합니다.

Scan Pathfinder를 사용하기로 결정하기 전에 개발자가 고려해야 하는 몇 가지 제한 사항이 있습니다.

• Scan Pathfinder 테스트는 독립적으로 개발해야 하며 다른 테스트 플랫폼에서 재사용할 수 없습니다.
• Scan Pathfinder는 경계 스캔 체인을 통한 ISP 및 플래시 프로그래밍을 지원하지 않습니다(Teradyne에는 플래시 및 ISP 구성 요소를 프로그래밍하기 위한 별도의 네이티브 솔루션이 있음).
• Scan Pathfinder는 일반적인 제조 결함을 감지하는 사적 제작 테스트를 생성합니다. 이 소프트웨어는 사용자 지정 경계 스캔 테스트 생성 또는 테스트 디버그 중 스캔 벡터 셀 데이터의 비트 수준 조작을 지원하지 않습니다.

TestStation의 파트너십 경계 스캔 제품은 Teradyne의 회로 내 테스터에 옵션으로 통합할 수 있습니다. 이러한 솔루션은 경계 스캔 컨트롤러 및 테스터 PC 컨트롤러나 테스트 픽스처에 연결하는 TAP 모듈 하드웨어와 함께 파트너 경계 스캔 개발 소프트웨어를 사용합니다. 제조업체는 이러한 파트너 솔루션을 사용하여 오프라인 PC를 사용해 경계 스캔 테스트를 개발 및 디버그할 수 있습니다. 준비가 되면 그러한 테스트를 적절히 구성된 Teradyne 회로 내 테스터로 전송할 수 있습니다.

TestStation 시스템에서 파트너 경계 스캔 솔루션을 사용할 경우 얻을 수 있는 이점은 다음과 같습니다.

• 기판 도입의 엔지니어링 및 NPI 단계에서 개발된 경계 스캔 테스트를 ICT 생산 테스트 중에 활용할 수 있습니다(ICT에서 경계 스캔 테스트를 다시 개발할 필요가 없음). 많은 제조업체가 선도적인 PC 기반 경계 스캔 솔루션에 익숙하며 이미 개발 실험실과 생산 시설에서 이러한 솔루션을 사용하고 있습니다. 이러한 경계 스캔 솔루션을 Teradyne 테스트 장비에 통합하면 제조업체는 이미 개발한 경계 스캔 테스트를 다시 사용할 수 있으므로 전체적인 회로 내 테스트 개발 노력을 줄일 수 있습니다.
• 많은 파트너 경계 스캔 솔루션은 사용자 지정 경계 스캔 테스트를 생성할 수 있게 해 주는 엔지니어링 개발 도구를 지원하며, 경계 스캔 테스트를 매우 빠르게 불러올 수 있는 고급 디버그 도구를 갖추고 있습니다.
• 파트너 경계 스캔 솔루션은 경계 스캔 테스트를 실행하는 것 외에도 PLD(Programmable Logic Device)를 프로그래밍하거나 프로세서 기반 기능 테스트를 수행하는 데 선택적으로 사용될 수 있습니다.

테스터에 2개 이상의 경계 스캔 솔루션을 설치하고 자신의 요구 사항에 가장 적합한 각 애플리케이션을 결정할 수 있다는 점을 기억하십시오.

Scan Pathfinder II는 TestStation 프로그램 개발 및 생산 테스트 환경에 사용할 수 있는 선택적 기능입니다. Scan Pathfinder의 3가지 라이선스는 다음과 같습니다.

• Scan Pathfinder II 프로그램 준비 단일 사용자 라이선스 – 테스트 개발자가 Scan Pathfinder 테스트 생성 소프트웨어를 실행해 IEEE 1149.1 및 1149.6 준수 경계 스캔 구성 요소를 활용하는 PCB에 대한 경계 스캔 테스트 프로그램을 자동으로 생성할 수 있게 해 주는 TestStation Development Pro용 프로그램 준비 라이선스입니다.
• Scan Pathfinder 테스트 및 진단 라이선스 – 이 런타임 전용 라이선스를 사용하면 작업자가 테스터에서 Scan Pathfinder 테스트를 실행하고 Scan Pathfinder IEEE 1149.1 경계 스캔 진단 소프트웨어를 사용할 수 있습니다. Scan Pathfinder 프로그램 코드에 IEEE 1149.6 고급 디지털 I/O 네트워크에 대한 테스트가 포함되어 있는 경우 Scan Pathfinder II 고급 진단 라이선스도 구매해야 합니다.
• Scan Pathfinder II 고급 진단 라이선스 – 이 런타임 전용 라이선스를 사용하면 작업자가 고급 IEEE 1149.6 디지털 네트워크 실패를 진단하는 데 필요한 전문 Scan Pathfinder 경계 스캔 진단 소프트웨어를 사용할 수 있습니다.

이러한 소프트웨어 라이선스를 활성화하려면 최종 사용자가 Teradyne(1-800-837-23963)에서 라이선스를 구매하거나 현지 Teradyne 담당자에게 연락해 Teradyne의 셀프 서비스 라이선스 관리자 클라이언트 유틸리티를 활용하여 다른 TestStation 소프트웨어 옵션과 동일한 방식으로 활성화해야 합니다.

Scan Pathfinder는 기존의 단일 스캔 경로, 버퍼 TAP 신호를 사용하는 단일 경로, 다중 독립 스캔 경로, 병렬 공유 데이터 경로, 하이브리드 경로 체계를 포함하는 다수의 스캔 경로 구성을 지원합니다.

기본적으로 1149.1 표준에 의해 허용되는 구성이 지원됩니다. Scan Pathfinder는 회로 데이터 및 BSDL 모델을 분석하고, 단순한 구성과 복잡한 구성을 모두 인식하며, 적절한 테스트를 자동으로 생성합니다. Scan Pathfinder가 테스트 생성기에 대한 스캔 경로 구성을 자동으로 결정하므로 개발자는 이를 식별할 필요가 없습니다.

필요한 경우 Scan Pathfinder 사용자 옵션 템플릿에서는 개발자가 스캔 경로 구성을 정의하고 소프트웨어에 의해 계산된 스캔 경로를 재정의하는 데 사용할 수 있는 기능을 기본으로 제공합니다.

애플리케이션이 단일 스캔 경로만 필요로 하는 경우에는 Scan Pathfinder가 TestStation 클록 드라이브 네일 리소스를 사용하여 TCK 핀을 구동할 수 있으므로 경계 스캔 테스트가 더 빠르게 실행되고 테스트 벡터가 줄어듭니다. 여러 스캔 경로가 필요한 애플리케이션의 경우 TAP 신호를 구동하는 데 TestStation Driver/Sensor 네일이 사용됩니다. 지원할 수 있는 스캔 경로 수에 대한 실제적인 제한은 테스트 시스템에서 사용할 수 있는 실제 네일 수뿐입니다.

각 스캔 경로의 데이터는 버스트당 최대 64K의 테스트 벡터를 저장할 수 있는 Teradyne의 UltraPin D/S 핀 메모리에 저장됩니다. 스캔 체인 길이가 64K보다 큰 애플리케이션을 사용하고 있는 프로그램 개발자는 디바이스 체인을 분리하여 여러 스캔 경로를 사용하는 테스트를 생성해야 합니다.

Scan Pathfinder는 개발자가 소프트웨어에 의해 생성된 경계 스캔 테스트를 사용자 지정하는 데 사용할 수 있는 다수의 옵션을 제공합니다. 이러한 옵션은 Scan Pathfinder 사용자 옵션 파일(테스트 프로젝트 General 폴더에 위치한 ScanPUserOptions 파일)을 통해 테스트 생성기에 입력됩니다.

옵션 파일은 Scan Pathfinder 설정 및 분석 창에 위치한 옵션을 설정하여 자동으로 생성하거나 텍스트 편집기를 사용하여 수동으로 생성 및 수정할 수 있습니다. 다음은 테스트 개발자에게 제공되는 옵션에 대한 간단한 설명입니다.

• 전원 옵션– 경계 스캔 테스트 중에 사용할 전원 켜기 및 전원 끄기 서브루틴의 이름과 경계 스캔 결함 진단 중에 UUT의 전원을 켜둘지 여부를 지정합니다.
• 로직 수준 – 경계 스캔 테스트 중에 사용할 D/S 네일의 로직 수준 전압을 지정합니다. ASSIGN LGC 테스트 언어 문을 지정하는 USER_LVLA 절차를 포함하도록 사용자 옵션 템플릿을 편집하여 복잡한 다중 로직 수준 그룹을 지정할 수 있습니다.
• TAP 옵션– 개발자가 소프트웨어에 의해 계산된 기본 스캔 경로 구성을 재정의하고 스캔 경로 및 테스트 액세스 핀을 직접 정의할 수 있습니다.
• Non-Test-Options– 개발자가 Scan Pathfinder 소프트웨어에서 테스트하지 않기를 바라는 디바이스 또는 UUT 노드의 목록을 지정합니다.
• 노드 수 제한 – 경계 스캔 단선, 상호 작용 및 상호 연결 테스트에 포함할 최대 및 최소 노드/네일 수를 지정합니다. 사용자는 테스트 생성 전에 이러한 제한을 설정하여 경계 스캔 테스트가 대상 테스터에서 사용할 수 있는 것보다 더 많은 실제 네일을 필요로 하는 테스트를 생성하지 않도록 할 수 있습니다.
• BSC 노드 그룹화 사용 – 테스트 생성기가 상호 작용 및 단선 테스트를 생성할 때 경계 스캔 구성 파일에 지정된 노드 그룹화를 사용하도록 강제합니다. 이 옵션은 멀티플렉스 테스트 시스템에서 픽스처가 이미 구축된 후 경계 스캔 테스트를 다시 생성할 때 유용합니다. 이를 사용하여 생성된 테스트가 멀티플렉싱 충돌을 야기하지 않는지 확인할 수 있습니다.
• TAP 포트만 사용하는 테스트 – 테스트 생성기가 경계 스캔 TAP 네일만 사용하는 경계 스캔 상호 연결 테스트를 생성하도록 강제합니다(TAP 핀에 연결된 테스터 네일 이외의 테스터 네일을 사용하지 않고 순수 경계 스캔 연결을 테스트함). 이 기능을 사용해 순수 경계 스캔 네트의 경계 스캔 상호 연결 테스트를 실행하면 ICT 테스트 픽스처를 사용할 수 있습니다.
• 격리 모드– 소프트웨어에 의해 생성된 억제 및 비활성화 루틴의 동작을 제어하여 경계 스캔 테스트 중 기판에서 비경계 스캔 부품을 격리합니다.
• 1149.6 전환 시간– AC 입력 셀 핀이 상호 연결 테스트 중 출력 핀 변경을 감지하는 데 필요한 최소 대기 시간을 지정합니다.
• RunBIST 클록– 개발자가 RunBIST 테스트를 실행하는 동안 사용할 사용자 지정 SET CLOCK 문 및 타이밍 매개 변수를 정의할 수 있습니다.
• 경로 초기화– 개발자가 스캔 브리지 링크 유형 디바이스와의 연결을 지원하기 위해 실행할 사용자 지정 초기화 시퀀스를 정의할 수 있습니다.
• HIGHZ/바이패스 사용– EXTEST가 아닌 OPENS 테스트 중 테스트 생성기에 HIGHZ 또는 BYPASS 명령을 비대상 디바이스에 로드하라고 지시하여 스캔 체인을 단축하고 전체 테스트 시간을 줄입니다.
• BIDIR 버스 테스트– Scan Pathfinder가 양방향 버스의 각 핀이 구동 및 감지할 수 있는지를 확인하는 상호 연결 테스트를 생성하도록 하는 데 사용할 수 있는 옵션입니다.

위 옵션 외에도 사용자는 기존의 ATO(Automatic Test Option) 파일을 활용하여 Scan Pathfinder 테스트에 사용자 지정 코드를 자동으로 포함할 수 있습니다.

Scan Pathfinder 테스트 생성기 소프트웨어는 PCB 설계에서 경계 스캔 부품을 자동으로 찾고 UUT 스캔 경로가 구성된 방식을 인식하도록 설계되었습니다. 이 소프트웨어는 회로 상호 연결, 프로젝트 라이브러리 파일, 사용자 옵션 파일 및 테스트 선택 입력을 분석하여 이를 수행합니다. Scan Pathfinder 소프트웨어는 편의상 아날로그, 디지털 및 하이브리드 테스트 프로그램과 별도로 번역 및 디버그될 수 있는 독립적인 경계 스캔 테스트 프로그램 파일(BTP 파일)을 생성합니다. 디버그가 완료되면 Teradyne의 병합 유틸리티를 사용하여 모든 독립적인 테스트 프로그램을 단일 테스트 프로그램에 결합할 수 있습니다.

아래에는 Scan Pathfinder 경계 스캔 테스트를 생성하는 일반적인 단계가 나와 있습니다.
1. Teradyne의 TS Development Pro(Win 7 TestStation Pro 7.1 버전) 소프트웨어를 사용하여 테스트 프로젝트를 만들고 PCB CAD 데이터를 가져옵니다.
2. 기판의 모든 경계 스캔 부품을 위한 BSDL 모델을 획득하고 프로젝트 또는 사이트 경계 스캔 라이브러리에 배치합니다.
3. Scan Pathfinder 설정 창과 경계 스캔 사용자 옵션 파일을 사용하여 경계 스캔 테스트 생성기 옵션을 정의합니다.
4. 경계 스캔 결함 검출률 및 테스트 생성기 보고서 파일을 생성하고 분석합니다.
5. 필요에 따라 옵션을 수정하여 테스트를 최적화하고 경계 스캔 테스트 프로그램을 생성합니다.
6. 대상 TestStation 테스터에서 경계 스캔 테스트 프로그램을 번역하고 디버그합니다.