생산 기판 테스트

Symphony는 JTAG Technologies가 Teradyne TestStation 회로 내 테스트 시스템을 위해 특별히 개발한 경계 스캔 파트너십 솔루션의 이름입니다.

지원되는 Symphony 구현으로는 두 가지가 있습니다. Symphony CFM은 JTAG Technologies의 경계 스캔 컨트롤러 및 TAP 인터페이스 모듈을 직접 사용합니다. JTAG Technologies 경계 스캔 컨트롤러는 테스터의 PC 컨트롤러의 PCI 슬롯에 설치되며, 케이블을 통해 Teradyne의 CFB(Custom Function Board)에 설치된 JTAG CFM(Custom Function Module)에 연결됩니다.

두 번째 구현인 Symphony DSM은 소프트웨어 변환기를 사용하여 JTAG Technologies의 경계 스캔 테스트 벡터를 Teradyne의 네이티브 테스트 프로그래밍 언어로 번역합니다. 해당 벡터는 Teradyne의 표준 회로 내 테스트 인스투르먼트를 사용하여 적용할 수 있습니다.

Teradyne은 고객의 최대 관심사인 선도적인 PC 기반 경계 스캔 솔루션을 보유한 회사와 전략적인 파트너십을 맺었습니다. 이러한 전략적 파트너십에서 파생되는 이점은 다음과 같습니다.

• 파트너는 고객에게 동급 최고의 경계 스캔 솔루션에 액세스할 권한을 제공합니다. 경계 스캔은 파트너 비즈니스의 주된 관심사이며, 파트너는 시간이 지남에 따라 IEEE가 발표하고 칩 벤더가 구현한 1149.x 표준으로 확장하면서 제품을 업데이트하고 개선할 전문 지식과 리소스를 개발했습니다.
• 많은 제조업체가 선도적인 PC 기반 경계 스캔 솔루션에 익숙하며 이미 개발 실험실과 생산 시설에서 이러한 솔루션을 사용하고 있습니다. 이러한 경계 스캔 솔루션을 Teradyne 테스트 장비에 통합하면 고객은 이미 개발한 경계 스캔 테스트를 다시 사용할 수 있으므로 전체적인 회로 내 테스트 개발 노력을 줄일 수 있습니다.
• 선도적인 PC 기반 경계 스캔 솔루션은 사용자 지정 경계 스캔 테스트를 쉽게 생성할 수 있게 해 주는 엔지니어링 개발 도구를 지원하며, 경계 스캔 테스트를 매우 빠르게 불러올 수 있는 고급 디버그 도구를 갖추고 있습니다.
• 선도적인 PC 기반 경계 스캔 솔루션에는 직렬 경계 스캔 인터페이스를 사용하여 기판상의 프로그램 가능 로직 디바이스의 프로그래밍을 지원하는 옵션이 있습니다.
• 파트너십 솔루션을 활용해 회로 내 테스터에서 고급 경계 스캔 테스트를 제공함으로써 Teradyne은 다른 기판 테스트 문제를 위한 혁신적인 솔루션을 개발하는 데 연구 및 개발 리소스를 집중하여 전문 지식을 통해 고객에게 가장 큰 가치를 제공할 수 있습니다(즉, Powered Framescan, 동시 테스트, SafeTest 보호 기술, D2B 소프트웨어, 하이 핀 카운트 테스트 등).

Teradyne은 표준 제품 소프트웨어로 2개의 네이티브 경계 스캔 솔루션인 BasicSCAN과 Scan Pathfinder를 포함하고 있습니다. BasicSCAN은 디바이스 제조업체가 공급하는 BSDL 파일을 사용하여 디지털 회로 내 테스트 라이브러리 모델을 자동으로 생성하는 전체 액세스 경계 스캔 솔루션입니다. BasicSCAN 모델은 테스터에서 D/S 핀을 사용하여 디바이스의 모든 핀이 연결되어 있는지 확인하고, 디바이스 ID 코드 레지스터를 판독하여 올바른 디바이스가 배치되었는지 확인합니다. BasicSCAN은 테스터가 경계 스캔 디바이스의 핀에 물리적으로 액세스해 테스트를 수행할 수 있는 경우 가장 간단하고 효과적인 경계 스캔 테스트
솔루션입니다.

Scan Pathfinder는 Teradyne의 제한된 액세스 경계 스캔 테스트 솔루션입니다. Scan Pathfinder는 독립적인 경계 스캔 테스트 생성 소프트웨어를 사용해 회로 및 BSDL 파일을 자동으로 분석하고 경계 스캔 부품과 그러한 부품이 상호 연결되는 방식을 결정합니다. 그런 다음, Teradyne의 표준 소프트웨어 및 인스투르먼트를 사용하여 적절한 하드웨어, 단선, 상호 작용, 상호 연결 및 BIST 테스트를 생성합니다. 테스트 애플리케이션이 D/S 핀에 제한적으로 액세스할 수 있고 경계 스캔 부품에 IEEE 1149.1 표준에 설명된 것 이상의
테스트 가능성 기능이 필요한 경우 Scan Pathfinder를 고려해야 합니다.

Teradyne의 네이티브 IEEE-1149.1 경계 스캔 솔루션을 사용할 경우 얻을 수 있는 이점은 다음과 같습니다.

• 이러한 솔루션은 Teradyne의 표준 ICT 소프트웨어 개발 소프트웨어에 포함되어 있습니다.
• 개발자와 제조업체가 추가 소프트웨어 또는 하드웨어를 설치할 필요가 없습니다.
• 회로 내 테스터 네일과 경계 스캔 가상 네일이 함께 사용되어 테스트 커버리지와 반복성을 극대화합니다.

그러나 BasicSCAN 또는 Scan Pathfinder를 사용하기로 결정하기 전에 Teradyne의 네이티브 경계 스캔 솔루션과 관련하여 고려해야 하는 제한 사항이 있습니다.

• BasicSCAN 및 Scan Pathfinder 테스트는 독립적으로 개발해야 하며 다른 테스트 플랫폼에서 재사용할 수 없습니다.
• BasicSCAN 및 Scan Pathfinder는 1149.1을 넘어서는 경계 스캔 기능 확장을 지원하지 않습니다.
• BasicSCAN 및 Scan Pathfinder는 경계 스캔 체인을 통한 ISP 및 플래시 프로그래밍을 지원하지 않습니다(Teradyne에는 플래시 및 ISP 구성 요소를 프로그래밍하기 위한 별도의 네이티브 솔루션이 있음).
• BasicSCAN 및 Scan Pathfinder는 일반적인 제조 결함을 감지하는
  사전 제작 테스트를 생성하며, 사용자 지정 테스트 생성을 지원하지 않습니다.

Symphony는 Teradyne의 회로 내 테스터에 옵션으로 통합할 수 있는 파트너십 경계 스캔 솔루션으로, JTAG Technologies의 선도적인 ProVision 경계 스캔 개발 소프트웨어를 기반으로 합니다. 제조업체는 ProVision 개발 소프트웨어, JTAG Technologies의 경계 스캔 컨트롤러 및 TAP 모듈 하드웨어를 사용하여 오프라인 PC를 통해 경계 스캔 테스트를 빠르게 개발하고 디버그할 수 있습니다. 준비가 되면 Symphony/CFM 또는 Symphony/DSM 솔루션을 사용하여 그러한 테스트를 Teradyne의 회로 내 테스터로 전송할 수 있습니다. Symphony 파트너십 솔루션을 사용할 경우 얻을 수 있는 이점은 다음과 같습니다.

• ICT 픽스처를 개발하기 전에 경계 스캔 테스트를 오프라인으로 개발할 수 있으므로 테스트 개발 속도가 빨라지고 테스터 시간 병목 현상이 없어집니다.
• 기판 도입의 엔지니어링 및 NPI 단계에서 개발된 경계 스캔 테스트를 ICT 생산 테스트 중에 활용할 수 있습니다(ICT에서 경계 스캔 테스트를 다시 개발할 필요가 없음).
• Symphony/CFM 솔루션은 경계 스캔 테스트를 실행할 뿐만 아니라 원하는 경우 가장 인기 있는 프로그램 가능 로직 디바이스를 프로그래밍하는 데에도 사용할 수 있습니다.
• Symphony/DSM 솔루션은 표준 Teradyne ICT 인스투르먼트를 사용하며, 제조업체는 회로 내 테스터에 추가 하드웨어를 추가할 필요가 없습니다.

테스터에 2개 이상의 경계 스캔 솔루션을 설치하고 자신의 요구 사항에 가장 적합한 각 애플리케이션을 결정할 수 있다는 점을 기억하십시오.

Symphony/CFM 패키지에는 하드웨어와 소프트웨어가 모두 포함되어 있습니다. 하드웨어는 TestStation Windows 기반 PC 컨트롤러의 PCI 슬롯에 연결하는 PCI 경계 스캔 컨트롤러와 JTAG TAP 모듈 하드웨어를 포함하는 MFAB(Multi-Function Application Board)로 구성되어 있습니다. CFM은 Teradyne의 MFAB에 맞게 설계되었습니다. MFAB는 액세서리 또는 ICT 수신기 베이 내부의 핀 기판 슬롯에 연결할 수 있으며, JTAG 경계 스캔 컨트롤러와 JTAG TAP CFM 모듈을 연결하는 케이블이 제공됩니다. MFAB를 위한 전문 Teradyne 테스트 프로그래밍 언어가 경계 신호를 테스트 대상 기판에 연결하는 MFAB 릴레이를 제어하는 데 활용됩니다.

Symphony/CFM은 독립 실행형 벤치탑 ProVision 개발 솔루션에서 사용되는 것과 동일한 JTAG ProVision 런타임 테스트 실행 소프트웨어와 테스트 프로젝트 파일을 사용하여 JTAG 하드웨어를 제어하고 경계 스캔 테스트를 실행합니다. JTAG의 ProVision 개발 환경에 익숙한 개발자는 Symphony/CFM 솔루션을 사용하기가 쉽다는 사실을 발견하게 될 것입니다.

Symphony/DSM은 회로 내 테스트 시스템에 JTAG 하드웨어를 설치할 필요가 없는 소프트웨어 전용 솔루션입니다. 이 소프트웨어는 JTAG-Teradyne 경계 스캔 벡터 변환기와 경계 스캔 진단 모듈로 구성되어 있습니다. 벡터 변환기는 독립 실행형 벤치탑 솔루션에서 ProVision이 생성한 테스트 프로젝트 벡터를 표준 Teradyne 테스트 프로그래밍 언어로 번역합니다. 최적의 성능을 위해 경계 스캔 테스트 벡터를 저장하는 데 Teradyne의 DSM(Deep Serial Memory) 옵션이 사용됩니다. 경계 스캔 테스트 벡터가 실패하면 결과가 파일에 작성되고 JTAG의 경계 스캔 진단 소프트웨어에 의해 해석됩니다.

아래에 나열된 각 Symphony 솔루션의 특성을 비교하여 테스트 애플리케이션에 가장 적합한 솔루션을 파악하십시오.

• Symphony/DSM은 Teradyne 회로 내 테스트 시스템에 외부 하드웨어를 추가할 필요가 없는 소프트웨어 전용 솔루션입니다. 따라서 이는 여러 EMS 제공업체에 기판 제조 하청을 주는 OEM에 적합한 유연한 저비용 솔루션입니다.
• Symphony/CFM은 JTAG Technology의 경계 스캔 컨트롤러와 TAP 모듈을 Teradyne의 회로 내 테스트 시스템에 설치해야 하는 결합형 소프트웨어/하드웨어 솔루션입니다. JTAG 경계 스캔 컨트롤러는 테스터의 PC 컨트롤러의 PCI 슬롯에 연결됩니다. Symphony/CFM 솔루션을 설치하려면 대상 테스터 PC에 사용 가능한 빈 PCI 슬롯이 있어야 합니다.
• Symphony/DSM은 제조업체가 하드웨어를 구매할 필요가 없기 때문에 Symphony/CFM보다 비용이 적게 드는 솔루션입니다.
• Symphony/DSM은 테스터 D/S 핀을 활용해 TAP 핀을 구동하고 감지하므로 D/S 리소스가 없는 아날로그 전용 테스트 시스템에서는 사용할 수 없습니다.
• Symphony/CFM 솔루션에서 사용할 수 있는 경계 스캔 컨트롤러와 CFM 하드웨어를 사용해 프로그램 가능 로직 디바이스 및 플래시 디바이스의 시스템 내 프로그래밍을 수행할 수도 있습니다(별도의 소프트웨어 라이선스 필요).
• Symphony/DSM 솔루션은 플래시/ISP 프로그래밍을 지원하지 않습니다. 플래시/ISP 프로그래밍을 수행하려면 표준 Teradyne 도구 또는 디바이스 모델을 사용해야 합니다.
• ProVision 개발 소프트웨어를 Symphony/CFM 솔루션에 추가하여 개발자가 테스터의 다양한 테스트 및 디버그 도구에 액세스하도록 할 수 있습니다.
• Symphony/DSM 솔루션은 디버그 도구를 제공하지 않으므로 경계 스캔 디버그 또는 테스트 수정이 필요한 경우 별도의 벤치탑 ProVision 시스템을 사용하여 해당 작업을 수행해야 하며 벡터 변환 도구를 사용하여 ICT 프로그램을 업데이트해야 합니다.
• Symphony/CFM 솔루션은 경계 스캔 컨트롤러를 사용해 테스트 벡터를 적용하며, Symphony/DSM 솔루션과 달리 ICT 핀 메모리에서 경계 스캔 테스트 벡터를 로드 및 언로드할 필요가 없습니다. 결과적으로 Symphony/CFM 경계 스캔 테스트 실행 시간이 동등한 Symphony/DSM 테스트 실행 시간보다 약 4배 더 빠릅니다.

Symphony/DSM 솔루션은 표준 TestStation 드라이버/센서 핀을 사용하여 경계 스캔 테스트 액세스 핀을 구동하고 감지합니다. 경계 스캔 벡터 데이터는 Teradyne의 DSM 모듈에 저장됩니다.

Symphony/CFM 솔루션은 JTAG Technology의 JT 3717/PCI 경계 스캔 컨트롤러와 JT 2147/CFM(Custom Function Module)을 사용하여 경계 스캔 테스트 액세스 핀을 구동하고 감지합니다. 테스트 대상 기판에 대한 CFM TAP 신호 연결은 이전에 사용자 지정 기능 기판으로 알려졌던 Teradyne의 MFAB(Multi-Function Application Board)의 릴레이에 의해 제어됩니다.

Symphony 솔루션의 라이선스는 다른 Teradyne 제품 기능과 비슷하게 부여됩니다. Symphony 제품을 구매하는 제조업체는 Teradyne 고객 지원 팀에 연락해 Symphony를 설치할 때 대상 테스터에 생성된 라이선스 등록 파일을 보내야 합니다.

그러면 Teradyne 고객 지원 팀이 특정 대상 테스터에서 Symphony 소프트웨어를 실행할 수 있게 하는 고유한 소프트웨어 라이선스를 얻어 제조업체에 보냅니다.

Symphony/CFM 솔루션은 소프트웨어 5.8.0 버전을 실행 중인 이전 228X Windows XP 기반 테스트 시스템에서 지원됩니다. 지원되는 테스터 유형에는 2280, 2281, 2281A, 2283, 2284, 2286, 2287, 2287A, 2287L, 2287LX 및 모든 TS8X 모델이 포함됩니다. 또한 모든 최신 Teradyne TestStation UltraPin 기반 테스트 시스템(TS, TSLH, TSLX, TS-Duo 및 TSR)에서도 지원됩니다.

Symphony/DSM 솔루션은 아날로그 전용 2281A, 2287A 및 TS121A 구성을 제외하고 위에 나열된 모든 시스템을 지원합니다. DSM 솔루션에는 디지털 D/S 리소스가 필요하므로 아날로그 전용 테스터 구성이 지원되지 않습니다.

Symphony는 TestStation Duo 동시 테스트 시스템을 지원하지만, 제조업체는 두 Duo 모듈을 모두 사용하여 동시에 Symphony를 실행하려는 경우 2개의 Symphony 패키지를 구매하고 Duo 테스터의 각 모듈에 독립적으로 설치해야 합니다.

프로그램 개발자는 일반적으로 JTAG Technologies의 ProVision 개발 소프트웨어 및 경계 스캔 하드웨어로 구성된 오프라인 PC 워크스테이션을 사용하여 경계 스캔 테스트를 개발 및 디버그합니다. 많은 프로그래밍 서비스 회사는 JTAG Technologies의 경계 스캔 제품 솔루션에 익숙하며 개발 실험실 중 한 곳에서 개발 스테이션에 액세스할 수 있습니다.

개발자는 JTAG Technologies의 ProVision 개발 소프트웨어와 경계 스캔 하드웨어에 액세스할 수 없는 경우 JTAG Technologies 또는 웹 사이트에 나열된 공인 영업 담당자를 통해 이를 구매할 수 있습니다.

경계 스캔 테스트 프로그램 개발 하청을 주는 것을 선호할 경우 JTAG Technologies는 컨설팅 및 개발 서비스도 제공합니다. 현장 애플리케이션 전문가가 긴밀하게 협력하여 작업의 범위를 정의하고 프로젝트에 대한 견적을 제공합니다. 오프라인 개발 스테이션에서 경계 스캔 테스트를 성공적으로 실행할 경우 이를 테스터로 이동해 표준 회로 내 테스트 프로그램에 통합할 수 있습니다. 통합 시에는 JTAG Technologies의 런타임 실행 소프트웨어(Symphony/CFM용)를 사용하여 변환된 테스트 벡터(Symphony/DSM용) 또는 경계 스캔 테스트 벡터를 실행하도록 회로 내 테스트 프로그램이 편집됩니다.

회로 내 테스터에서 경계 스캔 테스트가 실패할 경우 오프라인 개발 스테이션을 사용하여 추가로 디버그하거나 Bed-of Nails 픽스처의 전기 부하 효과를 최소화하기 위해 프로그램 또는 ICT 테스트 픽스처를 수정해야 할 수 있습니다.

Symphony/CFM 솔루션을 사용하여 테스터에서 개발 및 디버그를 수행하려면 ProVision 개발 도구를 구매하여 테스터에 설치하면 됩니다.

대부분의 CM은 보통 OEM 고객에게서 회로 내 테스트 픽스처 및 프로그램을 받습니다. 따라서 일반적으로 회로 내 픽스처 또는 프로그램을 개발하지 않습니다. 이러한 CM은 회로 내 및 JTAG 경계 스캔 테스트가 이미 통합된 테스트 프로그램 및 픽스처를 제공받게 됩니다.

이러한 CM은 Symphony 소프트웨어가 회로 내 테스트 시스템에 제대로 설치되어 있고 라이선스를 받았는지 확인하기만 하면 됩니다. 프로그램에 Symphony/CFM 솔루션이 필요한 경우 계약 제조업체는 PCI 경계 스캔 컨트롤러와 JTAG CFM 하드웨어가 대상 회로 내 테스터에 설치되어 있는지 확인해야 합니다. 프로그램이 Symphony/DSM 솔루션을 사용하는 경우 계약 제조업체는 회로 내 테스터에 DSM 하드웨어 옵션이 있는지 확인해야 합니다.

계약 제조업체는 ECO 또는 부품 변경을 지원하기 위해 경계 스캔 생산 테스트를 변경할 권한이 있는 경우 Symphony/CFM 솔루션을 사용해 테스터에 ProVision 개발 도구를 설치하거나 독립 실행형 ProVision 테스트 스테이션이 있어야 필요합니다. 이러한 옵션 주문에 대해 알아보려면 위의 주문 및 가격 관련 질문을 참조하십시오.

Teradyne은 JTAG 하드웨어 수리 및 교체, 소프트웨어 패치에 대한 액세스 제공, 고객 지원 팀을 통한 기술 질문에 대한 답변을 비롯하여 Symphony 제품에 최고 수준의 지원을 제공합니다.

Teradyne이 내부 지원 팀과 해결할 수 없는 문제는 JTAG Technologies의 엔지니어링 팀으로 전달되어 적시에 해결되도록 추적됩니다.

Teradyne은 JTAG Technologies의 ProVision 개발 소프트웨어 및 오프라인 개발 스테이션에 대한 교육을 제공하지 않습니다. ProVision 개발 소프트웨어에 대한 사용자 지정 교육 수업은 JTAG 및 해당 공인 유통업체가 제공합니다.

Symphony에 대한 첫해 지원 비용은 제품 가격에 포함되어 있습니다. 이 기간 이후에 지원을 받으려면 Symphony 소프트웨어 유지 관리 계약을 구매해야 합니다. 사용자가 최신 Symphony 소프트웨어 업데이트 및 패치를 다운로드할 수 있는 Teradyne의 웹 지원 포털에 액세스하고 Teradyne의 전문가 고객 지원 팀으로부터 적시에 전화 지원을 받을 수 있도록 Symphony 소프트웨어 유지 관리 계약은 Teradyne의 SSA(Software Support Agreement)와
함께 제공됩니다.

Symphony 소프트웨어 유지 관리 계약을 Teradyne의 표준 SSA(Software Support Agreement)에 추가하려면 테스터당 추가 비용을 지불해야 합니다. Teradyne에서 FSA(Full Service Agreement)를 구매하는 제조업체에는 Symphony/CFM 솔루션에 대한 하드웨어 지원이 무료로 제공됩니다.

Teradyne의 FSA에 포함되지 않은 테스트 시스템의 경우 제조업체는 잠재적인 제조 가동 중지 시간을 피하기 위해 예비 Symphony/CFM 하드웨어를 구매하여 현장에 보관하는 것이 좋습니다.