멀티 패널 경계 스캔
경계 스캔 솔루션
IEEE 표준 1149.1 및 1149.6
경계 스캔(IEEE 표준 1149.1 및 1149.6)은 실리콘 제조업체가 제조하는 구성 요소에 테스트 가능성을 설계할 수 있는 기술입니다.
Teradyne은 개발자에게 다음과 같은 경계 스캔 테스트 옵션을 제공합니다.
- TestStation 회로 내 테스트 시스템에 고유한 BasicSCAN 및 Scan Pathfinder
- 특정 벤더가 제공하는 파트너십 벤치탑 경계 스캔 솔루션
BasicSCAN 테스트는 테스터 네일을 사용하여 디바이스 핀에서 단선을 감지하므로 테스터가 다수의 디바이스 핀에 액세스할 수 있는 테스트 상황에 적합하게 설계되었습니다.
테스트 생성 기능:
- 디바이스 경계 스캔 설명 정보를 업계 표준 BSDL 형식 또는 TestStation의 간단한 IBS 파일 형식으로 가져올 수 있는 기능
- 디바이스 경계 스캔 정보를 쉽게 입력 및 수정할 수 있는 그래픽 사용자 인터페이스
- BasicSCAN 사용자 인터페이스에 입력된 정보에서 BSDL 모델을 생성할 수 있는 기능
- 올바른 명령 레지스터 캡처 값과 적절한 레지스터 길이 확인
- 선택적 구성 요소 IDCODE 및 USERCODE 값 확인
- 네일로 고정된 디바이스 핀의 단선 결함 감지
- 선택적 RUNBIST 명령을 지원하는 구성 요소의 내부 로직 확인
- 기판의 다른 구성 요소를 테스트하는 동안 테스트 생성기에 경계 스캔 구성 요소를 차단하는 방법을 알려주는 격리 섹션 자동 생성
- 정확한 핀 수준 진단 메시지
- 강력한 디지털 테스트 언어 기능 덕분에 복잡한 배선 구성 요소를 지원하기 위해 사용자 수정이 필요하지 않음
테스트 생성 기능:
- 여러 스캔 경로가 있는 기판 지원
- 감지된 스캔 경로 구성을 기반으로 경계 스캔 테스트 프로그램 자동 생성
- 기존의 회로 내 테스트를 실행하는 동안 모든 경계 스캔 디바이스를 비활성화하는 데 사용할 수 있는 격리 벡터 자동 생성
- UserOption 설정을 통해 경계 스캔 테스트 프로그램 사용자 지정 지원
- 하드웨어 테스트
- 단선 테스트
- 상호 작용 테스트
- 상호 연결 테스트
- 단락된 CAP 테스트
- RunBIST 테스트
- 가상 디지털 테스트
- 그래픽 보고서 요약 창에서 또는 텍스트 파일로 볼 수 있는 포괄적인 테스트 보고서
- 정확한 디바이스 및 핀 수준 진단 메시지를 보장하는 별도의 경계 스캔 런타임 진단 작업
Symphony(JTAG Technologies)
Symphony는 JTAG Technologies와 협력하여 TestStation을 사용하는 제조업체를 위해 특별히 설계한 고급 경계 스캔 솔루션입니다.
ScanExpress(Corelis)
ScanExpress는 회로 기판에서 기본적인 단락/단선/불량/누락 결함을 테스트하고 메모리 및 CPLD의 시스템 내 프로그래밍을 수행하는 데 사용되는 인기 있는 JTAG 테스트 개발 및 실행 도구입니다.
SCANFLEX/CASCON GALAXY(GOEPEL electronic)
GOEPEL electronic은 특별히 설계된 SCANFLEX 디바이스와 JTAG/경계 스캔 시스템 소프트웨어 CASCON GALAXY를 결합해서 활용하는 TestStation용 통합 옵션을 제공합니다.
