TestStation 기능 및 옵션
TestStation 시스템 제품군은 대형 조립식 일체형 PCBA에 대한 테스트에 최적화된 시스템 폼팩터로 오늘날 전자 제조의 볼륨, 테스트 복잡성, 자동화 요구 사항에 맞춰 손쉽게 구성할 수 있습니다. 각 시스템은 일반적인 핀 카드, 테스트 소프트웨어, 전원 공급 디바이스, 그리고 다음과 같은 기능 및 옵션을 지원할 수 있습니다.
표준 기능
모든 TestStation 모델에 기본으로 제공되는 테스트 기능은 다음과 같습니다.
- Windows 기반 PC 컨트롤러 – 테스트 인스투르먼트와의 고성능 커뮤니케이션 및 최대의 테스트 처리량 보장
- 단락/단선 드라이버 – 선형 알고리즘과 바이너리 감지 알고리즘을 모두 활용하여 다락 및 단선 결함을 빠르고 정확하게 진단
- 아날로그 하위 시스템 – 레지스터, 커패시터, 인덕터, 다이오드, 트랜지스터, FET, 연산 증폭기, 정류기를 정밀하게 측정할 수 있음
- 고압 소스 및 측정 인스투르먼트 – 120V를 공급하고 최대 200V까지 측정할 수 있음
- 임의 파형 발생기 – 사인, 사각, 삼각 또는 복잡한 사용자 정의 파형을 제공할 수 있음
- 디지털 전압계/디지타이저 인스투르먼트 – 기판상의 신호를 캡처하는 샘플링 범위로 구성할 수 있음
- 동기식 아날로그 및 디지털 하위 시스템 – 혼합 신호 디바이스의 코히런트 측정 수행
- 8채널 인스투르먼트 멀티플렉서 및 고성능 핀 스캐너 매트릭스 – 8개의 측정 채널 중 하나에 인스투르먼트 또는 테스터 핀을 라우팅할 수 있음
- Junction Xpress 벡터리스 테스트 기법 – AC 신호를 적용하고 다이오드 접합부에서 고조파 주파수를 측정하여 디지털 IC의 단선 디바이스 핀 및 주변부 솔더 조인트를 감지할 수 있음
- IEEE-488 인스투르먼트 버스 – 외부 GPIB 호환 인스투르먼트를 테스터 내부 인스투르먼트 버스에 연결할 수 있는 9개의 외부 포트가 있음
- 테스터에 내장된 교정 표준 및 자체 테스트 회로 – 신뢰할 수 있는 시스템 확인 절차 보장
- 사용자 수준에서 프로그램 가능한 릴레이 드라이버 – 외부 회로 및 픽스처 하드웨어에서의 전환 지원
- 고수준 프로그래밍 언어 – 프로그래머가 빠르게 사용자 지정 테스트 절차를 만들고 기존 테스트 시퀀스를 수정할 수 있음
- TestStation Pro 소프트웨어 제품군 – 프로그램 디버그를 가속화하고 생산 효율을 극대화하기 위해 생산성 도구가 기본으로 제공되는 TestStation Debug Pro 및 Production Pro 소프트웨어 환경 포함
- AutoFLASH 및 ISP 툴셋 – 프로그램 가능 로직 디바이스를 위한 테스트 벡터 모델 자동 생성 지원
- 데이터 로깅 및 데이터 표시 소프트웨어 – 테스트 및 생산 측정 데이터에 대한 강력한 분석
옵션
TestStation 시스템 옵션으로 제공되는 기능은 다음과 같습니다.
- D2B(Design-to-Build) 소프트웨어 프레임워크 – CAD 준비, 프로그램 준비, 픽스처 조립 활동 간소화
- Smart4Metrics – 회로 내 테스터 상태 및 하드웨어 데이터를 기존 데이터 수집 시스템과 연결하는 Teradyne의 스마트 공장 솔루션
- Framescan FX 벡터리스 테스트 소프트웨어 및 하드웨어 – 간단한 비전동식 용량성 측정 기법을 사용하여 디바이스 및 커넥터의 단선 핀 감지
- BasicSCAN 경계 스캔 테스트 모델 생성 소프트웨어 – 물리적 테스트 액세스 경로가 있는 경계 스캔 디바이스 핀을 위한 디지털 테스트 벡터 모델을 자동으로 생성
- Scan Pathfinder – 테스트 액세스가 제한된 경계 스캔 기판에서 결함을 감지하는 포괄적인 경계 스캔 테스트 생성 및 진단 소프트웨어
- Powered Framescan – Framescan의 벡터리스 테스트 기능과 기본으로 제공되는 경계 스캔의 제어 기능을 결합해 물리적 테스트 액세스가 제한된 커넥터 및 디바이스에서 단선을 감지할 수 있음
- Dynamic Programming Extension 소프트웨어 – DLL(Dynamic Library Link) 커뮤니케이션 표준을 사용하여 외부 소프트웨어 애플리케이션과 TestStation 런타임 사이의 양방향 커뮤니케이션 허용
- 사용자 전원 공급 디바이스 – 테스트 대상 기판에 전원을 공급하기 위해 설치할 수 있으며 최대 300V의 전압 또는 최대 28A의 전류를 얻도록 구성할 수 있음
- Ultra Pin II 핀 기판 – 제조업체 테스트 정확도에 맞춰 다양한 구성으로 제공됩니다(아날로그 전용, 퓨어 핀, 하이브리드, 고밀도). UltraPin II 드라이버/센서 핀은 핀 프로그램 가능 로직 전압, 자동 드라이버 확인, 백드라이브 모니터링 및 제어, 듀얼 로직 임계값, 프로그램 가능 슬루율당 15mV의 테스트 정확도를 자랑합니다. 전문화된 디지털 하위 시스템 타이밍 제어로 디지털 벡터와 긴 벡터 스트림 적용을 지원하는 혁신적인 데이터 압축 기법(타이밍 세트, 중첩 루프, 하위 루틴, 데이터 테이블, 데이터 가져오기 및 내보내기, CRC 계산)을 정밀하게 적용할 수 있습니다.
- CST(Clock Drive, Clock Sense, Trigger) 신호 핀 – 최대 20MHz의 속도로 작동할 수 있으며 D/S 핀과 동기화되어 플래시, ISP, 경계 스캔, 복잡한 디지털 구성 요소의 테스트 벡터 개발을 간소화함
- DSM(Deep Serial Memory) – 디지털 핀 이면의 메모리를 64K에서 최대 1Gig로 확장하는 데 사용할 수 있으며 매우 긴 데이터 스트림이 필요할 수 있는 PLD 프로그래밍 및 경계 스캔과 같은 테스트 애플리케이션에 유용함
- SFTM(System Frequency/Time Measurement) 인스투르먼트 – 테스트 대상 기판에서 시간 관련 이벤트(빈도, 기간, 시간, 간격, 비율, 수, 사용률, 펄스 폭)를 측정할 수 있는 기능 제공
- MFAB(Multi-Function Application Board) – 애플리케이션 관련 하드웨어를 테스트 시스템에 직접 연결할 수 있게 해 주고 테스트 대상 기판에 사용자 지정 회로를 연결할 수 있는 고충실 경로 제공
- PXI 기능 확장 기판 – 4개의 소형 PXI 인스투르먼트를 테스트 시스템에 연결할 수 있도록 지원하므로 테스터의 기능적 테스트 기능을 확장할 수 있음
