半導体の微細化が進み、チップやパッケージの複雑さが増すにつれて、 System Level Test (SLT) が不可欠になりつつあります。
テラダインのシステムレベルテスト部門のシステムアーキテクトであるピーター・ライチャート氏が、システムレベルテストとは何か、そしてそれがどのように最終製品の品質向上や市場投入までの期間短縮につながるのかについて解説します。
目次と抜粋
System Level Test (SLT) 、従来の自動試験装置（ATE）のようにテストベクトルを作成するのではなく、単にデバイスを使用するだけで、エンドユーザーシステムでの使用状況と同様に被試験デバイス（DUT）をテストSystem Level Test (SLT) 。テストは依然として作成されますが、その方法は異なります…
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