防衛・航空宇宙分野で使用される生産ラインや整備工場の試験システムに導入されている旧式のアナログ計測器は、処理速度の低下、不十分な試験カバレッジ、およびLRU（ライン交換可能ユニット）の不正確な故障診断を引き起こすことが多く、特に性能仕様がより厳格化された新型ユニットにおいてその傾向が顕著である。
テラダインは、2つのシリーズのアナログ試験装置を提供しています
- VXIベースのコア・システム・インスツルメンツ（CSi）
- ZTシリーズ PXI/LXI計測器。
どちらの製品群も、今日の厳しい試験要件を満たすだけでなく、従来のATEシステムに高度な試験機能をもたらします。
CSiシリーズの計測器には、デジタルサンプリングオシロスコープ（DSO）、デジタルマルチメーター（DMM）、および多機能アナログ（MFA）機能が搭載されており、新規および既存のATEシステムの両方に最適です。CSiシリーズのいくつかの計測器は、テストの処理速度を向上させるマルチチャンネル並列同期機能を備えています。
コンパクトなPXIまたはLXIベースのZTシリーズDSOおよび任意波形発生器（AWFG）は、設置スペースの節約が求められる新しいATEシステムに最適です。
メリット
CSiの複数の計測器で利用可能な「Tester-per-pin」アーキテクチャ。
CSiのすべてのアナログチャネルに完全な刺激・測定機能を統合することで、インターフェース・テスト・アダプタの設計を簡素化します。
幅広い仕様において優れたテスト性能を発揮します。
どちらの製品ファミリーも、高スループットのテストを実現し、ミックスドシグナル・ラインリプレイサブルユニット（LRU）などの複雑なシステムに対する並列刺激・測定が可能です。
高機能密度のフォームファクタ。
VXIおよびPXIeのフォームファクタは、チャネル密度を高めると同時に、テストシステム全体の設置面積とコストを削減します。
COTSアーキテクチャ。
測定信号の生成と測定の柔軟性、高い信頼性を提供するとともに、導入コストを低減し、ライフサイクルコストの削減を実現します。
世界中でのサポート。
提供されるサポートサービスには、不良部品の24時間修理・返送サービス、ホットラインによる電話サポート、そして包括的なトレーニングおよびドキュメントが含まれます。
用途
ATEおよびレガシー試験システム向けの高性能アナログ計測器。
高密度かつコンパクトな筐体で、高性能および／または多チャンネル刺激測定機能を必要とする新しい混合信号ATEシステム向けの最適なテスト・測定ソリューションです。
旧式で処理速度の遅いディスクリート型（ラックマウント）の計測器を、すべてのテスト・チャネルで高密度かつ高度なアナログ機能を利用できる機器に置き換えてください。
