UltraFLEXplus

ACインスツルメンツ

UltraPAC300 – 次世代高密度アナログ計測器

• 高性能オーディオおよびベースバンドAC計測器
• 最大300MHzまで対応
• デュアルモードの高速・高解像度チャンネル

UltraCTO384 – 高性能・高密度コンバータ・テスト・オプション

• 128のソースチャネル、128のキャプチャチャネル、および128のリファレンスチャネル

• 最大16ビットの分解能に対応したシングルエンドおよび差動型組み込みコンバータのテスト

• 定速試験用の正弦波および滑らかなランプ波の生成

• デバイストリム用±50µV電圧測定精度

• ソースおよびリファレンスの両方に対するDUT電圧検出

• ソースからリファレンスまでの統合型校正により、DIB回路の必要性を最小限に抑え、高いサイト数を可能にします

画像キャプチャ機器

• 20Gbps データレート
• ピンあたりのPPMU
• プロトコル対応
• 1台あたり64の差動レーン（64 – 機器Rx）
  • 16個の3または4レーンポート、32個の2レーンポート、64個の1レーンポート
• 機器あたり4 x 100GbEデータ転送帯域幅
  • 16差動レーンあたり100GbE

DCインスツルメンツ

UltraVS64 -HP – 高性能コア電源計測器

• 1台あたり1,280アンペアのデバイス電力
• 1つの連結電源で最大5,120Aまで合流可能
• テストセルの総容量は15,000アンペアを超える
• 新興の統合型電圧レギュレータ（IVR）アーキテクチャ向けの独自の16V電圧範囲
• レチクルサイズのダイおよびマルチダイパッケージ全体において、優れた動的負荷応答性を備えた統合型マルチポイントセンシング
• 熱暴走に対するハードウェアレベルの障害対応機能を備えたインテリジェント電源インターフェース

UltraVS64 – コア電源計測器

• デバイスのコア電源用として、極めて高精度かつ安定した電源
• 比類なきダイナミックなパフォーマンス
• <1mV 6 Sigma voltage accuracy
• 1台あたり最大320アンペアのデバイス電力
• 単一電源で最大1,600Aまで合流可能
• システム全体で最大2,560アンペアの瞬時電流ステップに対応

HP 高密度・高柔軟性を備えた汎用デバイス用電源

• 計測器あたり256チャンネル
• 柔軟なマージ機能
• 優れた走行性能
• 低騒音
• 4象限電圧または電流の生成・測定

UltraPort-PCIe6 – PCIe Gen6デバイス向けHigh-Speed I/O プロトコル測定器

• 1台あたり32レーンで64 Gb/s（PAM4）
• ピンごとの専用PMUと統合ループバック機能により、カバレッジと診断機能を強化
• デバイスへの信号経路が極めてクリーンで、優れた信号インテグリティを実現
• 2TBの高性能メモリまで拡張可能な、専用サーバークラスのコンピューティングバックエンド
• ミッションモードテストおよびhigh-speed I/O スキャンでは、正常動作が確認済みのダイ（KGD）について、カバレッジを挿入段階のより早い段階へと移行させる

UltraPHY：PHY性能テストの包括的なカバレッジ

UltraPHY224G

• 1台あたり、全二重差動レーン8本＋受信専用差動レーン8本
• 最大112 Gb/sのNRZおよび224 Gb/s（112 Gbaud）のPAM4のデータ転送速度をテスト
• 超高密度かつ超高速データ転送を実現。1つのインターフェースにつき複数の計測器に対応 UltraFLEXplus 1台のテスターで複数の計測器に対応
• 業界をリードする他のUltraPHY計測器モデルと共存します UltraFLEXplus
• 包括的なPHY製造テストおよび特性評価のためのDSO + BERTアーキテクチャ
• テラダイン社の広く採用されているIG-XLソフトウェアによる統合ワークフロー
• PAM4およびNRZに関する、高さ、幅、TDECQなど、ほとんどの眼形関連の測定に対応しています。
• 主な適用例：PCIe Gen 7、OIF CEI-224G、CXL、シリコンフォトニクス（SiPHO）など

UltraPin5000-EM – 高性能デジタル計測器

• パターン処理を多用するAIおよび演算デバイス向けに特別に設計された
• 市場に出回っている他の製品に比べて、最大80倍のベクトルメモリを搭載
• パターンの読み込み速度が最大10倍に高速化。ほぼ瞬時にリロードできる「パーシステンスモード」を搭載
• ピンごとに独立したクロック周波数をサポートする柔軟なタイミングアーキテクチャ
• ネットワークアクセラレーションをスキャンし、コアごとのリアルタイム結果と適応型のテスト判断を取得する
• UltraPin2200に対応しており、既存のテストIPへの投資を保護します

UltraPin2200 –高密度デジタル計測器

• 高密度、1台あたり512チャンネル
• 同時テスト、またはサイトごとのユニークなパターンフローに対応する、計測器あたり32のパターンジェネレーター
• 独自のハードウェアベースのプロトコル認識機能
• 非決定論的データテスト専用のメモリ
• 柔軟なパターンメモリアーキテクチャにより、最大16Gビットのスキャンテスト能力を実現
• サイト間のデータ共有

RF計測器

• 1台あたり8つの独立した送信機と8つの独立した受信機
• 計測器あたり32の双方向ポート
• 周波数範囲：50 MHz～24 GHz
• 最先端のエラーベクトル振幅（EVM）および位相ノイズ性能
• テストのパフォーマンスとコストを最適化できるよう設定可能

• 500 MHz I/Q帯域幅サポート
• 機器あたり16の差動ソースチャネルと16の差動キャプチャチャネル
• WiFi 7において、-50 dB（標準値）という優れた誤差ベクトル振幅（EVM）性能を実現
• ピン当たりパラメトリック単位（PPMU）機能