UltraFLEXplus
世界をリードする半導体テストプラットフォーム
UltraFLEXplus UltraFLEXplusは、新しい計測器およびソフトウェア機能と、スループットとエンジニアリング効率を飛躍的に向上させる革新的なテスター基盤を融合させています。これらはすべて、UltraFLEXの長い歴史の中で蓄積されたテストIPを活用しながら実現されています。
メリット
最短の市場投入期間
IG-XLソフトウェアの互換性と、新たに導入されたBroadsideアプリケーションインターフェースにより、テストエンジニアは導入当初から生産性を高め、量産までの時間を20%以上短縮することができます。
最大スループット
UltraFLEXplus 、テストサイト数が増加し、並列テストの効率が向上することで、全体的なスループットが向上し、必要なテストセルの数が15%～50%削減されます。
拡張性のあるアーキテクチャ
UltraFLEXplus は、複数の製品ラインに再配置したり、将来の製品要件に合わせてアップグレードしたりUltraFLEXplus 、再利用率を高め、資産の耐用年数を延ばすUltraFLEXplus 。
用途
- モバイル・アプリケーション・プロセッサ
- デジタルベースバンドプロセッサ
- 高データレートRFトランシーバー
- RF接続デバイス
- ミリ波
- 5G
- モバイル用電源管理IC（PMIC）
- マイクロプロセッサ
- ネットワークプロセッサ
- 高速SERDES（シリアライザ／デシリアライザ）およびバックプレーン用トランシーバ
- ストレージコントローラ
- ハイエンド・マイクロコントローラ
- オーディオ・ビデオプロセッサ
設定
UltraFLEXplus 種類のベースシステムUltraFLEXplus 、お客様は設備投資コスト、設置面積、および最大リソース数を最適化することができます。3つのバージョンすべてにBroadside DIBが採用されており、高密度化、サイト数の増加、および配線の簡素化を実現しています。
UltraFLEXplus
24スロットシステム
UltraFLEXplus
12スロットシステム
UltraFLEXplus
6スロットシステム
新世代の高性能第3世代計測機器シリーズ
ACインスツルメンツ
UltraPAC300 – 次世代高密度アナログ計測器
- 高性能オーディオおよびベースバンドAC計測器
- 最大300MHzまで対応
- デュアルモードの高速・高解像度チャンネル
UltraCTO384 – 高性能・高密度コンバータ・テスト・オプション
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128のソースチャネル、128のキャプチャチャネル、および128のリファレンスチャネル
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最大16ビットの分解能に対応したシングルエンドおよび差動型組み込みコンバータのテスト
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定速試験用の正弦波および滑らかなランプ波の生成
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デバイストリム用±50µV電圧測定精度
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ソースおよびリファレンスの両方に対するDUT電圧検出
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ソースからリファレンスまでの統合型校正により、DIB回路の必要性を最小限に抑え、高いサイト数を可能にします
RF計測器
- 1台あたり8つの独立した送信機と8つの独立した受信機
- 計測器あたり32の双方向ポート
- 周波数範囲：50 MHz～24 GHz
- 最先端のエラーベクトル振幅（EVM）および位相ノイズ性能
- テストのパフォーマンスとコストを最適化できるよう設定可能
- 500 MHz I/Q帯域幅サポート
- 機器あたり16の差動ソースチャネルと16の差動キャプチャチャネル
- WiFi 7において、-50 dB（標準値）という優れた誤差ベクトル振幅（EVM）性能を実現
- ピン当たりパラメトリック単位（PPMU）機能
DCインスツルメンツ
UltraVS256-HP – 高密度・高柔軟性の汎用デバイス用電源
- 計測器あたり256チャンネル
- 柔軟なマージ機能
- 優れた走行性能
- 低騒音
- 4象限電圧または電流の生成・測定
UltraVS64 – 次世代コア電源計測器
- デバイスのコア電源用として、極めて高精度かつ安定した電源
- 比類なきダイナミックなパフォーマンス
- <1mV 6 Sigma voltage accuracy
- 1台あたり最大320アンペアのデバイス電力
- 単一電源で最大1,600Aまで合流可能
- システム全体で最大2,560アンペアの瞬時電流ステップに対応
UltraVI264 – 高精度・高密度DC計測器
- 104の低電圧チャネルを248接続に多重化
- 8つの高電圧チャンネルを16の接続に多重化
- USB充電規格向けの柔軟なチャネル結合
- 高精度直流測定
High-Speed I/O HSIO）計測器
UltraPHY：PHY性能テストの包括的なカバレッジ
UltraPHY224G
- 1台あたり、全二重差動レーン8本＋受信専用差動レーン8本
- 最大112 Gb/sのNRZおよび224 Gb/s（112 Gbaud）のPAM4のデータ転送速度をテスト
- 極めて高いデータ転送速度での高密度接続を実現。UltraFLEXplus で複数の計測器に対応
- UltraFLEXplus上で、業界をリードする他のUltraPHY計測器モデルと共存します
- 包括的なPHY製造テストおよび特性評価のためのDSO + BERTアーキテクチャ
- テラダイン社の広く採用されているIG-XLソフトウェアによる統合ワークフロー
- PAM4およびNRZに関する、高さ、幅、TDECQなど、ほとんどの眼形関連の測定に対応しています。
- 主な適用例：PCIe Gen 7、OIF CEI-224G、CXL、シリコンフォトニクス（SiPHO）など
UltraPHY112G
- 16の全二重差動レーン
- 最大64 Gb/sのNRZおよび112 Gb/s（56 Gbaud）のPAM4のデータ転送速度をテスト
- 高密度；UltraFLEXplus 複数の測定器に対応可能
- UltraFLEXplus上で、業界をリードする他のUltraPHY計測器モデルと共存します
- 包括的なPHY製造テストおよび特性評価のためのAWG＋DSOアーキテクチャ
- テラダイン社の広く採用されているIG-XLソフトウェアによる統合ワークフロー
- UltraPHY224G へのアップグレードパス：将来を見据えた投資
- NRZおよびPAM4に関する、高さ、幅、SNRなど、ほとんどの眼図関連の測定に対応しています。
- 主な適用例：PCIe Gen 1～Gen 6、OIF CEI-112G、IEEE 802.3ckイーサネット、シリコンフォトニクス（SiPHO）など
デジタル・インスツルメンツ
UltraPin2200 – 次世代デジタル計測器
- 高密度、1台あたり512チャンネル
- 同時テスト、またはサイトごとのユニークなパターンフローに対応する、計測器あたり32のパターンジェネレーター
- 独自のハードウェアベースのプロトコル認識機能
- 非決定論的データテスト専用のメモリ
- 柔軟なパターンメモリアーキテクチャにより、最大16Gビットのスキャンテスト能力を実現
- サイト間のデータ共有
画像キャプチャ機器
- 20Gbps データレート
- ピンあたりのPPMU
- プロトコル対応
- 1台あたり64の差動レーン（64 – 機器Rx）
- 16個の3または4レーンポート、32個の2レーンポート、64個の1レーンポート
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機器あたり4 x 100GbEデータ転送帯域幅
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16差動レーンあたり100GbE
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Photon 100
TeradynePhoton 100 は、高度な光・電気計測機器をUltraFLEXplus に統合することで、ウェーハ、光エンジン、およびコパッケージモジュールの各工程において、高スループットな自動テストPhoton 100 。これにより、業務の効率化、市場投入までの期間の短縮、そして拡張性の高いシリコンフォトニクス製造の支援が可能となります。
UltraFLEX Family
UltraFLEXシリーズのテスターは、お客様の既存の投資を最大限に活用し、包括的な計測機能と、UltraFLEXの長い歴史の中で継続的に機能強化が重ねられ、現在10,000人以上のプログラマーが活用する業界標準であるIG-XLソフトウェアを組み合わせることで、新しいテストプログラムの開発および導入に必要なエンジニアリングの負担を軽減することを目指しています。
テラダインは、包括的なテストセルソリューションおよびサービスのリーディングプロバイダーとして、当社の専門知識、経験、そして技術的リーダーシップを活かし、お客様が生産工程において最高の歩留まりとスループットを達成し、最短で市場投入できるよう支援いたします。設計から生産に至るまでの全プロセスにおいてお客様と協力し、標準およびカスタマイズされたテストセル製品とサービスを提供いたします。