Magnum 7
本日および明日のハイパフォーマンス・フラッシュ最終テスト
テラダインのMagnum 7 」は、最新世代のNANDフラッシュデバイスをテストするために、高度な設計Magnum 7 。高速フラッシュデバイスは、次世代のUFSおよびPCIeアプリケーションの実現を可能にしています。 AI革命は、高性能データセンター用SSDや次世代AI PC、ノートPC、モバイルデバイスに保存される膨大なデータによって推進されています。Magnum 7最大構成Magnum 7、1チャネルあたり5.28Gbpsの速度で、最大18,432のI/Oチャネルを提供します。
メリット
高性能
5.28Gbpsのデジタルチャネルを備えたMagnum7は、現在および次世代のNANDデバイスのテストを目的に設計されています。ONFIおよびSCA（Separate Command/Address）インターフェースの両方をサポートすることで、テラダインは今後長年にわたり求められる性能要件を満たすことを目指しています。
高い並列処理能力
Magnum 7 、最大18,432のI/O、最大4,096のDUT電源（DPS）チャネル、および最大4,096の高電圧（HV）ピンを構成可能です。テラダインの優れた「体積あたりの信号効率」により、最大1,024個のデバイスを同時にテストすることができます。
大電流PMU
Magnum 7並列型大電流Magnum 7、低抵抗パラメータを最短時間で測定することが可能です。
拡張性の高い
Magnumテスターファミリーは、すべて同一のハードウェアおよびソフトウェアを採用しながら、さまざまな構成で提供されています。エンジニアリング向けのEVは、最小4つのテスターサイトに対応しています。中規模のSSV+は最大96のテスターサイトに対応し、最大の並列処理能力を持つGVは最大128のテスターサイトに対応します。EV上で実施された開発作業は、本番環境のSSV+またはGVに直接展開することができます。
テスト時間の短縮
テラダイン独自のFail List Stream（FLS）とハードウェアによるパラメータスイープの組み合わせにより、テスト時間を最大25%短縮できます。Magnum 7 7が採用する、他に類を見ないほど強力かつ柔軟なパターンジェネレータと、当社のアプリケーションチームが誇る確かな実績と革新性がMagnum 7 、メモリテスト業界において比類のない性能を実現します。
設定
Magnum 7
- 最大1,152個のデジタルピン、および最大256チャネルの被試験機器（DUT）用電源（DPS）および高電圧（HV）チャネルを構成可能な、自立型の低消費電力エンジニアリング・テスト・システム。
- テスター・インターフェース・ユニット（TIU）は、業界標準の512および768パラレル・ハンドラーと接続するために利用可能です。
- デバイス固有のアダプタ（DSA）およびテストプログラムは、Magnum 7のすべての構成において完全に互換性があります。
Magnum 7
- 最終試験用途向けの大量生産用テストシステム。最大13,824本のデジタルピン、および3,072本のDPSおよびHVチャネルを構成可能です。
- TIUは、業界標準の512および768ピン並列ハンドラーと接続可能です。
- DSAおよびテストプログラムは、EVおよびGV構成と完全に互換性があります。
Magnum 7
- 最終試験用途向けの大量生産用テストシステム。最大18,432本のデジタルピン、および4,096本のDPSおよびHVチャネルを構成可能です。
- TIUは、業界標準の512および768ピン並列ハンドラーと接続可能です。
- DSAおよびテストプログラムは、EVおよびSSV+構成と完全に互換性があります。
ソフトウェア
Magnum 7 、ひいてはすべてのMagnumテスターは、相互運用可能なTeradyneのテスト開発およびデバッグツールを共有しており、異なるプラットフォーム間でのシームレスな連携を可能にしています。テストプログラムは単一のデバイス向けに作成され、利用可能なハードウェア全体に自動的に複製されるため、開発プロセスが簡素化されます。また、このデバッグツールスイートは設置場所を認識するため、問題のあるデバイスを迅速かつ効率的に特定することができ、新製品の導入から量産への移行を円滑に進めることができます。