J750Ex-HD Family
高効率・低コストな試験における業界標準
世界では毎年数十億個の半導体が生産されており、その試験要件は多岐にわたります。J750Ex-HDは、複雑度の低いミックスドシグナルデバイスの試験において、妥協のない品質を保ちつつ、最も低コストな試験ソリューションを提供します。
J750Ex-HD：MCUテストソリューション
マイクロコントローラ（MCU）は、自動車、モバイル電子機器、ロボット工学などで使用されています。日常生活の中で、電子機器には数十個ものMCUが搭載され、独自の機能を実現していますが、それらの多くはテラダインのJ750 テストされているでしょう。 6,000台を超える導入実績と、50カ所以上のOSAT（受託組立・試験）拠点で広く利用されているテラダインのJ750 、低コストデバイスの大量生産向け試験における業界標準J750 。
なぜJ750ExHDはマイクロコントローラ・テスト市場を席巻しているのでしょうか？J750 1998年に初めてJ750 。テラダインは当時も現在も、プラットフォームの世代を超えた互換性を維持しつつ、単一サイトのテスト時間を短縮し、並列テストの効率を最適化することで、テストコストの削減に注力しています。J750 、製品ライフサイクル全体を通じて互換性を維持しつつ、より高い性能と低コストのテストを実現する新たな計測機器を提供し続けている、現在も販売されているATE製品の中で最も長い歴史を持つ製品群です。J750Ex-HDは、市場で最高レベルの並列処理能力と性能を提供する最新モデルです。
最も低い検査費用
競争の激しい半導体市場において、テストコストの削減は極めて重要です。J750Ex-HD family 、競合製品と比較してテストコストを25～J750Ex-HD family 、スループットの向上とテストサイトの増加を実現しています。テストサイトの増加は、High Density（HD）シリーズの測定器およびソフトウェアによって実現されており、テストコストの最小化に向けた最速の道筋を提供します。
最短で利益を上げる
受賞歴のあるIG-XL™ソフトウェアは、競合するATEソフトウェアシステムと比較して、マルチサイト・テストプログラムの開発を30％高速化します。IG-XLは効率性を重視しており、他のATEプログラミング言語に比べて必要なコード行数が50％少なくて済みます。 このソフトウェア環境はコードの再利用を促進し、コードのコンパイルを必要としない言語により、リアルタイムデバッグの利便性が大幅に向上しています。また、J750Ex-HD family内でシームレスに移植できるため、生産現場での統合に既存のドッキングインターフェースを活用することで、生産導入時のリスクを低減できます。
J750Ex-HDは、貴重な製造スペースの使用を最小限に抑える「ゼロフットプリント」設計で知られています。2048本の多機能ピンと最大400 MHz/800 Mbpsのデータレートに対応するこのテストシステムの拡張性により、機能統合が進む低コストデバイスに最適です。
自動車用MCUのテスト品質
J750Ex-HDは、自動車用MCUテストにおいて最も成熟し、市場で実績のあるプラットフォームです。このテストシステムは、再現性のあるデバイス試験結果を提供するように設計されており、自動車市場において極めて重要な最高品質のテストを実現するために、テストプログラムの検証を支援するソフトウェアツールを搭載しています。テストプログラム検証ツールスイートにより、プログラミングエラーや予期せぬプログラムの変更を防止します。 独自の計測器モニタリング機能により、デバイスへの潜在的な損傷を防ぎ、3温度プローブインターフェースにより、自動車用デバイスを低温（-25～-45°C）、常温、高温（120～160°C）の各温度条件下でテストすることが可能です。
MCU内部のすべてのコンポーネントをテストするためのJ750Ex-HDのオプションには、以下のものが含まれます：
- 高速デジタル800測定器（HSD800）は、デジタル機能と特性評価試験を提供します
- 組み込みメモリテスト用メモリテストオプション（MTO）
- メモリおよびミックスドシグナル用各ピンの背面に配置されたデジタル信号源・キャプチャ（DSSC）
- DFTベースのスキャンテスト用ディープ・スキャン・ヒストリーRAM（DSHRAM）
- 組み込みフラッシュメモリのテスト用高電圧デジタル（HVD）機能
- 高性能かつ精密に制御されたデバイス電源向け高密度デバイス電源（HDDPS）
- 高密度VIソース（HDVIS）：高サイト数を実現し、測定タイミングを正確に制御するためのパターン制御機能を備えています
- 組み込みアナログ部品のオーディオ試験用ミックスドシグナル・オプション（MSO）
- 組み込み型ADC/DACコンバータの試験用高密度コンバータ試験オプション（HDCTO）
- 混合信号テスト用高密度アナログピン測定ユニット（HDAPMU）
J750 LitePoint RFテストシステム
J750 計測機器を追加するオプションにより、世界各国のワイヤレス接続規格を網羅した、コスト効率に優れた包括的な量産テストソリューションが実現します。 Bluetooth®などの組み込みRFコンポーネントがマイクロコントローラやその他のスタンドアロン型ワイヤレスSoCデバイスに普及する中、J750 は、優れたコスト効率と迅速な市場投入を実現しつつ、さらに幅広いアプリケーションのテストをJ750 。エンジニアが初期のベンチトップでの立ち上げや下流のモジュールテストに使用するのと同じLitePoint計測機器を活用することで、新製品の市場投入にかかる総工数と時間を大幅に短縮できます。
J750 （J750、Ex、HD）向けのアップグレードとして提供されるJ750、開発およびデバッグにIG-XLを活用し、LitePoint RF Tool Suiteおよび変調ライブラリを統合しています。J750は、高スループットのRF信号処理を行うための専用オンボードDSP、豊富なワイヤレスソフトウェアライブラリ、そして包括的なデバッグツールスイートを提供します。
J750は、既存のLitePointアプリケーションと互換性があります。このテストシステムは最大32のRFポートに対応しており、デバイスインターフェースボードに対して6GHz帯の性能を実現する信頼性の高い信号インターフェースを備え、多数の測定ポイントでのテストを可能にします。
テラダインは、包括的なテストセル・ソリューションおよびサービスのリーディングプロバイダーとして、当社の専門知識、経験、そして技術的リーダーシップを活かし、お客様が生産工程において最高の歩留まりとスループットを実現し、最短で市場投入できるよう支援いたします。設計から生産に至るまでの全プロセスにおいてお客様と連携し、標準およびカスタマイズされたテストセル製品とサービスを提供いたします。