デジタル測定器
デジタル機能試験向けの高性能VXIおよびPXI計測器。
テラダインの Di-Series および eDigital-Series デジタル・テスト・インスツルメントは、低電圧差動信号（LVDS）などの技術に対応しつつ、従来のテスト要件を完全にサポートする機能を維持しています。優れた信頼性に加え、これらのインスツルメントは、テスト・システムの設置面積、プログラミングおよびサポートの負担、そして総所有コストを削減します。
The Di-Series Diシリーズは、高度に集積化された標準準拠のVXI計測器であり、最大50 MHzの速度で被試験機器（UUT）をテストするための、高性能と柔軟性を兼ね備えた強力なソリューションです。
コンパクトなPXIeフォームファクタを採用した、 eDigital-Series は、幅広いアプリケーション要件を満たす多彩なデジタル計測器を提供します。本シリーズの最新機種は、ピンごとの電圧レベルとタイミングを制御可能な最大544チャネルの同期並列デジタルテスト機能に加え、再構成性を高めるユーザープログラム可能なFPGAを搭載しており、業界で最も汎用性が高く柔軟なデジタル計測器となっています。
メリット
優れた性能。
TTL、LVTTL、LVDSなど幅広い技術に対応した柔軟な並列機能テストにより、テスト品質を向上させ、No Fault Found（NFF）による見逃しを低減します。
高密度フォームファクタ。
VXIおよびPXIeのフォームファクタはいずれも、チャネル密度を高めつつ、テストシステム全体の設置面積を削減します。
信頼性と耐環境性。
高密度実装と、衝撃・振動試験を含む厳格な品質管理により、最も過酷な艦載環境やモバイル環境においても、平均故障間隔（MTBF）の短縮を実現しています。
世界中でのサポート。
提供されるサポートサービスには、不良部品の24時間修理・返送サービス、ホットラインによる電話サポート、包括的なトレーニングおよびドキュメント、ならびに現場での校正検証が含まれます。
用途
ATEおよびディスクリート試験システム向けの高性能デジタル計測器。
高性能および／または多チャンネル機能を必要とする、高密度かつコンパクトなパッケージの新規および既存のATEシステムに、テラダインのデジタル試験機器を統合します。
旧式で処理速度の遅いディスクリート（ラックマウント）計測機器を、すべてのテストチャンネルで利用可能な高密度かつ高度なデジタル機能に置き換えます。
設定
現在および将来のテスト要件を満たす機器ファミリーをお選びください。どちらの機器も、新規または既存のATEシステムに統合することが可能です。
- VXIフォームファクタ
- 最大50MHz
- 電圧範囲：±15V または ±30V
- チャンネル数：32、48、または64
- PXIeフォームファクタ
- 最大25MHz
- 3V、2.5V、1.8V、LVDSレベル (5Vトレラント)
- チャンネル数：動的チャンネル32、静的チャンネル32、または差動チャンネル32
