イメージセンサー試験システムIP750Ex-HD

イメージセンサー試験分野における世界的リーダー

なぜIP750Ex-HD は市場をIP750Ex-HD のでしょうか?これは、現在および将来のデバイスに対応したイメージセンサー試験機能を提供しつつ、最も低い試験コストを実現する、信頼性の高い第4世代の試験システムだからです。

IP750Ex イメージセンサー試験システム

お客様は、テラダインが世界中で提供するアプリケーション・サポートが、比類のないテストの専門知識を備えていることをご存じです。こうした理由から、イメージセンサー市場では、一貫してIP750Ex-HD ・テスト・システムがテストソリューションとして選ばれ続けているのでしょう。

IP750EX-HD 業界が高品質なCCDおよびCMOSイメージセンサーを製造することを可能IP750EX-HD テストプラットフォームIP750EX-HD 、ToF(Time of Flight)センサーなどの新技術のニーズに応える上で最も経済的なプラットフォームです。スマートフォン、高性能デジタルスチルカメラ、あるいは家庭用セキュリティ・監視システムを使用する際、これらのアプリケーションに搭載されているイメージセンサーは、テラダインのIP750EX-HDによってテストされている可能性が高いでしょう。

イメージセンサーに搭載される機能が増えるにつれ、テラダインのIP750Ex-HD テスト対象範囲を拡大しIP750Ex-HD 。 現在、「センシング」デバイスには、距離計測、3D深度センシング、拡張現実(AR)、仮想現実(VR)、自動車の安全機能、および先進運転支援システム(ADAS)などの用途が含まれています。モバイル分野では、複数カメラの採用や、ユーザー認証のための指紋認証カメラの導入が増加しています。デバイス設計の複雑化に伴い、テスト時間も長くなっています。また、自動車用途では、パッケージ済みデバイスのテストにおいて、低温・高温テストの影響により、テスト項目が増加しています。

イメージセンサーがますます複雑化する中、いかにしてテスト時間と市場投入までの期間を短縮できるでしょうか?テラダインIP750Ex-HD 、数々の賞を受賞したIG-XL™ソフトウェア IP750Ex-HD 。イメージセンサーメーカー各社は、この使いやすいソフトウェアが、研究開発から量産までの期間を最短に短縮することを熟知しています。

IP750Ex-HD 、高解像度イメージセンサーの需要の高まり、テスト品質基準の拡大、および多様な波長や変調機能を備えた革新的な新センサー機能への対応を目的としてIP750Ex-HD 。このアーキテクチャは、高解像度センサーの処理要件を満たす64ビット画像データ処理をサポートしており、データ転送には最速のデータバスを採用することで、最短のテスト時間を確実に実現します。  テラダインは、テストエンジニアの作業を容易にするための画像処理ライブラリやアプリケーションの専門知識を提供する一方、IG-XL™ を使用することで、お客様は独自の画像テストアルゴリズムを実装し、テスト IP の作成と保護を行うことも可能です。

メリット

高解像度デバイス向けに最先端の画像解析アルゴリズムを実行するための高性能プロセッサ群

1台あたり40Gbpsの高速並列データ転送

最大80カ所を並行してテスト

拡張性の高いコンピューティングと大規模なデータ転送アーキテクチャにより、設置数が少ない特殊センサーから大量に設置されるイメージセンサーに至るまで、あらゆる種類のセンサーにおいて、テストコストを最小限に抑えます。

顧客独自のテストアルゴリズムに対する、安全かつ簡単なサポート

幅広いデバイスに対応

  • 幅広いデバイスのテストに対応する高い汎用性 – VGAから1億画素以上まで、多数の画像出力規格に対応
  • 市場で唯一、カスタムLVDSプロトコルに対応した計測ソリューション
  • SoC型イメージセンサー向けのデジタル計測器を備えた、強力なSoCテスト機能

設定

IP750Ex-HD

  • ウェハーテストに対応した80サイトシステム
  • ICMD 1.5Gbps MIPI D-Phy イメージキャプチャ装置
  • ICMDによるカスタムLVDSキャプチャ機能
  • D-PHY 2.5Gbps 画像キャプチャユニット
  • C-PHY 2.5Gsps 画像キャプチャユニット
  • M-PHY 6.0Gbps イメージキャプチャユニット
  • HSD800 400MHz デジタル計測器
  • HDDPS 24/48チャンネル DC電源
  • 40Gbps画像データ転送
  • 150mm x 160mmのイルミネーターをサポート
  • J750Ex-HDシリーズに対応

システム設定

VI リソース

  • APMU:64チャネル、-35V~35V、35V時50mA対応、8チャネル合算時400mA
  • HDVIS:-10V~10V、10V時200mA対応、4系統合流/800mA

コンバータ試験

  • CTO:8チャネル入力、8チャネルキャプチャ、16ビットADCのテスト
  • HDCTO:32チャネルの入力、32チャネルの電圧リファレンス、8チャネルのキャプチャ、14ビットADCのテスト