システムレベルテスト（SLT）とは、被試験デバイス（DUT）を、その最終的な使用環境に極めて近い条件下で試験することです。SoCやSIPの複雑化が進み、品質要件もますます厳格化していることから、デバイス試験戦略における重要な利点として、SLTの採用が広まっています。
SLTを用いて、最終的な使用環境に即した状態でデバイスの機能テストを行うことで、デバイスメーカーは、従来のウェハーおよびパッケージ試験手法では検出できなかった可能性のある不具合の見逃しを防ぐことができます。 テラダインは、業界の動向に応え、業界初のRF対応量産用SLTテスター「Titan-RF」を開発することで、様々な無線周波数（RF）機能のテストを可能にしました。SLTにおけるRFテストは強く求められているトレンドですが、RFソリューションの複雑さと拡張性の問題により、実現が困難でした。
デバイスメーカー各社は、RF試験機能をシステムレベル試験に統合しようとしています。 モバイルデバイスには、RF信号を送受信するトランシーバーが搭載されている。デバイスメーカーは、政府が定めた規制要件を超えない範囲で、これらのデバイスの性能を確立し、信号強度を最大化する必要がある。こうしたデバイスメーカーは、デバイスをベクトル信号発生器およびベクトル信号アナライザ（VSG/VSA）に接続し、広帯域信号のRF電力レベル校正を実行できるテストソリューションを必要としている。また、最終的な機能テストを行うためには、このデバイスとVSG/VSAをシステムレベルテスターに接続する必要がある。
従来、この種の試験は、VSG/VSAを1つずつ接続する必要があるため、作業台上で手作業で行われていました。その結果、生産性が低く、大量生産を実現するにはスペースの活用が非効率的でした。
テラダインの「Titan-RF SLT」テスターは、RF接続を必要とするデバイス向けに、大規模並列処理、自動化、非同期動作を実現したテスターです。Titan RF SLTプラットフォームは、最大320のRF対応テストサイトをサポートします。さらに、テラダインは、被試験装置（DUT）1台あたり最大12のRF信号を供給可能な小型広帯域RF信号スプリッタを開発しました。RFテスト機能は、付属のサポートキャビネット内に設置された、テラダイン傘下のLitePoint社製テスト機器との統合によって提供されます。LitePoint社からは、必要なテスト性能と機能要件を満たす幅広いRFテスト機器が提供されています。
RFテスト機能を統合したTitan SLTプラットフォームを活用することで、デバイスメーカーは、システムレベルでの包括的な機能テストを実施し、6GHz未満の各LTE帯域でテストコールを実行し、電力レベルのキャリブレーション要件を特定することで、デバイスの検証を行うことができます。
ソリューションの主な特長：
Titan-RFソリューションを利用することで、デバイスメーカーは以下のことが可能になります：
Titan-RF SLTプラットフォームは完全自動化されています。被試験デバイス（DUT）は標準的なJEDECトレイで搬入されます。その後、一連の自動ハンドリング工程を通じてテストプロセスが効率化され、キャリアに収められたデバイスは、工場の床面積を最適化する垂直ラックに配置されたテストスロット内の測定機器に接続されます。
Titan-RF SLTソフトウェアは、LitePointのRF試験装置を活用してDUTに試験プログラムを適用し、接続性、校正、コンプライアンス、およびその他の必要な各種試験を実行します。デバイスの試験プログラムが完了すると、キャリアはテストスロットから取り外され、Titan-RF SLTシステムの自動化エリアに戻されます。そこで、試験済みのデバイスはキャリアから取り外され、結果に応じて分類されます。