AIを活用したデータセンターは、速度と効率の面で新たな限界に到達しつつあり、より低い消費電力でより高い帯域幅を実現できる技術への需要が高まっています。シリコンフォトニクス（SiPh）は、帯域幅と遅延を改善しつつエネルギー消費を削減することを可能にする、重要なソリューションとして台頭しています。
こうした変化に伴い、自動試験装置（ATE）は、SiPh統合が抱える特有の課題に対処し、大規模な生産環境においても性能と品質を確保する上で、極めて重要な役割を果たしています。
『 『Semiconductor Digest』誌において誌において、テラダインのジョージ・ウルタルテ氏は、SiPhがデータセンターインフラの未来をどのように形作っているか、そしてそれに歩調を合わせるためにテスト戦略がどのように進化しているかについて、自身の見解を語っている。
記事全文を読む、 『Co-Packaged Optics：未来のデータセンター技術におけるテストの課題』（Semiconductor Digest掲載）
ジョージ・S・ハルタルテ博士は現在、テラダインの半導体コンピュート・テスト部門において、シニア・ディレクター兼主席マーケティング・ストラテジストを務めています。ジョージはこれまで、テラダイン、ラム・リサーチ、ライトポイント、トランスイッチ、ロックウェル・セミコンダクターズにおいて、技術、管理、経営の各分野で様々な役職を歴任してきました。 ジョージは、SEMI北米支部の諮問委員会メンバーであり、IEEEヘテロジニアス・インテグレーション・ロードマップ（HIR）テスト・チャプターの共同議長を務めています。ジョージは電気工学の博士号に加え、3つの修士号（MBA、コンピュータサイエンス、電気通信）を取得しています。また、カリフォルニア大学サンタクルーズ校およびフェニックス大学の客員教授も務めています。著書に『Understanding Fabless IC Technology』があります。