製造ボードのテスト
フレームスキャン・テクノロジーズ
ベクターレス・テスト・テクノロジーズ
フレームスキャンは、部品パッケージやコネクタの未接続ピンを検出するために用いられる、ベクトルを使用しない検査手法です。フレームスキャンを使用するメリットは以下の通りです：
- 小型リードフレームパッケージおよびコネクタに対する故障検出率を向上させます
- テスト プログラムの開発を簡素化します
- 試験環境で発生する可能性のあるノイズの影響を受けにくい。
テラダインのFramescanテクノロジーには、以下の機能が含まれています：
- 迅速かつ簡単なテストプログラムの開発
- 自動学習機能
- 高いピン故障検出率
- ピンレベルの正確な診断
- Advanced Framescan FX ハードウェア
- バウンダリスキャン・スティミュラス・オプションは、アクセス削減テストに対応しています
アナログ・フレームスキャンは、テスターのアナログ計測器で生成された交流正弦波を用いてフレームスキャン刺激信号を供給する、電源を必要としないテスト手法です。アナログ・フレームスキャン手法では、テスターがテスト対象のピンに物理的にプローブを接続できる必要があります。
主な機能は以下の通りです：
- 非通電試験手法
- 標準的なICT計測機器を使用する
- 実績のあるオープンピン検出
- ICパッケージ、ソケット、コネクタ、および極性付きコンデンサに対応しています
- 自動学習プロセス
- Advanced Framescan FX ハードウェア
Junction Xpressは、集積回路（IC）のはんだ切れを検出するためのリードレス試験技術です。Junction Xpressは、MCBやCOB技術を含む、内部リードフレームを持たないICデバイスも容易に試験することができます。さらに、Junction Xpressは、20～50オームの範囲を超える抵抗値を示す、不安定なはんだ接合部も検出可能です。
主な機能は以下の通りです：
- 治具のオーバークランプや追加の電子部品は不要です
- Xpressのテストプログラムは数分で自動的に生成され、手動でのデバッグ作業を一切行わずに実行可能です
- ACおよびDCの刺激源を活用し、デジタル電圧計の測定が可能
- 今日の最新集積回路部品に対し、90～100％の故障検出率を実現します
Powered Framescanは、基板上のバウンダリスキャン・デバイスによって生成されたデジタル波形を刺激信号として使用する、電源投入状態でのテスト手法です。Powered Framescanツールはバウンダリスキャン・デバイスを利用して刺激信号を生成するため、テスターがネットに物理的にアクセスできない場合でも、デバイスのピン上の欠陥を検出することができます。
主な機能は以下の通りです：
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- 物理的なテスト用ピンがないピンの故障を検出します
- バウンダリスキャンとフレームスキャン技術を組み合わせたもの
- 自動テスト生成および学習モード
- 既存のFramescan FXハードウェアおよびテスター機器を使用する
- 革新的な時間領域手法は周波数に依存しない
