eDigital-Series™Digital Test Instrumentation
LVDS技術向けの並列デジタル試験に対応したPXIeデジタル計測器。
防衛・航空宇宙分野の筐体および基板設計では、低電圧TTL（LVTTL）や低電圧差動信号（LVDS）技術が頻繁に採用されており、境界スキャンやパラレルI/Oによるフラッシュ・プログラミング・テスト機能が必要とされることがよくあります。eDigital-Series 、-2V～+6Vのロジック電圧を使用する被試験装置（UUT）に対し、柔軟なパラレル・デジタル機能テストを提供します。
テラダインのeDigital IVIドライバは、32チャネルにおいて、ピンごとのタイミングや電圧レベル、データ形式、パターンデータ、タイミングアライメントなど、すべての並列デジタル機能テストパラメータを制御します。最大16Mのパターン深度と結果メモリを備えています。eDigital-Series最新計測器とテラダインの非接触空気結合信号技術（CFAST）を組み合わせることで、最大544チャネルの同期動作を実現できます。
eDigital-Series 、こうした新しい被測定装置（UUT）にしばしば搭載されているバウンダリスキャン、パラレルI/O、およびフラッシュプログラミング機能も活用しています。コンパクトなPXIeフォームファクタを採用したeDigital-Series 、単体で利用することも、統合型HSSub の一部として構成することも可能です。
メリット
卓越したLVTTLおよびLVDSデジタル測定性能。
-2V～+6Vのデジタルチャネルは、16MBのパターン深度と結果メモリを備え、仮想オシロスコープ上で最大544本のシングルエンド・チャネルにわたり、最大50MHzのデータレートに対応しています。
バウンダリスキャンによるデバイスのプログラミングおよびサードパーティ製バウンダリスキャンツールのサポート。
JTAG、Asset、Corelis、およびAcculogicのバウンダリスキャンツールに対応しています。
eDigitalソフトウェアドライバ。
32本のシングルエンド・チャネル全体にわたるピンごとのタイミング、データ形式、およびデスキューを完全に制御でき、最新のデジタル・テスト・エディタ（eDTE）を使用してプログラム可能です。
PXIeフォームファクタ。
コンパクトなフォームファクタにより、テストシステムの設置面積を削減しつつ、性能密度を最大化します。
信頼性と耐環境性。
高密度実装と、衝撃・振動試験を含む厳格な品質管理により、最も過酷な艦載環境やモバイル環境においても、平均故障間隔（MTBF）の短縮を実現しています。
世界中でのサポート。
提供されるサポートサービスには、不良部品の24時間修理・返送サービス、ホットラインによる電話サポート、包括的なトレーニングおよびドキュメント、ならびに現場での校正検証が含まれます。
用途
eDigital-Series はeDigital-Series 幅広い用途に対応する数多くの重要な試験機能を備えています。
eDigital-Series には、以下のものがあります：
- 並列デジタル試験
- シングルエンドおよび差動デジタル試験
- 従来のI/O、パラレルI/O、およびバウンダリスキャンI2C＋SPIによるフラッシュプログラミング、ならびにHSSub 経由のPCI
設定
eDigital-Series 、単体機器として、HSSub ファミリーの一員としてご利用eDigital-Series ：
設定の選択肢には、以下のものがあります：
- eDigital-6030
- eDigital-6020A
- eDigital-6025A
- HSSub
- HSSub（ファンネル付き）
- HSSub
システム設定
その他の機能とアクセサリー
- オプションのインターフェースアダプタおよびケーブル
- オプションの延長保証／先行交換サービス