オムニックス
AIおよびデータセンター向けPCBA製造のための高度なテストプラットフォーム
Omnyxは、AIおよびデータセンター向けハードウェアに使用されるプリント基板アセンブリ（PCBA）およびサブアセンブリ向けの高度な製造テストプラットフォームです。構造試験、パラメトリック試験、高速相互接続試験、および動作試験を単一のプラットフォームに統合することで、Omnyxは製造業者が製造プロセスの早い段階で、アセンブリの完全性とシステム性能の両方をテストすることを可能にします。
概要
AIやデータセンターのアーキテクチャが進化するにつれ、PCBAやサブアセンブリはますます複雑化し、その重要性も高まっています。従来のインサーキットテスト（ICT）手法は、主に組み立て工程で生じた構造的欠陥やパラメトリック欠陥を検出するものです。しかし、シグナルインテグリティや動作上の不具合など、現代の高性能システムに影響を及ぼす多くの問題は、高速動作時や実稼働環境下でのみ顕在化します。
Omnyxは、従来のICTの枠を超えたテストカバレッジを拡大することで、メーカーが最終的なシステム統合の前に、部品やサブアセンブリの段階でこれらの欠陥を検出できるようにします。このアプローチにより、欠陥の見逃しを減らし、最終工程の歩留まりを向上させ、今日の高性能データセンターインフラに求められる品質と信頼性を確保することができます。
メリット
テストカバレッジの拡大
構造試験、パラメトリック試験、高速相互接続試験、および動作試験を単一のプラットフォームに統合
早期の欠陥検出
部品およびサブアセンブリの段階で、シグナルインテグリティおよび性能上の問題を特定します
収量と品質の向上
欠陥の流出を低減し、システムの最終的な信頼性を向上させる
AIおよびデータセンター向けハードウェアに最適化
複雑で高性能なコンピューティング・アーキテクチャ向けに設計されています
拡張性のある製造
次世代インフラ向けのコスト効率に優れた拡張可能な生産環境を実現
技術仕様
- 自動化： 非接触高速搬送、SMEMA対応
- 試験システム： 同期化されたアナログおよびデジタルサブシステム
- 対応テストアーキテクチャ：単一施設、複数施設、および大規模試験
- ピン数: 2,560～10,000ピン以上
- PCBフットプリント: 900×750mm
- PCBの重量: 15kg
- 治具の互換性: 自動／手動のシングルフィクスチャハードウェア
- コントローラー: Windows 10/11® Pro 搭載PC
- インターフェース: マウス・キーボード・モニター一体型
- ネットワークインターフェース: イーサネット
- 業界標準の安全基準への準拠