在宅勤務者の急増やxEVへの需要の高まりにより、民生用および自動車用製品におけるワイドバンドギャップ半導体の採用が加速しており、ディスクリートトランジスタやパワーモジュールを中心とした市場において、新たな試験要件が導入されています。場合によっては、これらの試験は製造プロセスの評価やデバイスの機能性を確認するために不可欠です。また、IGBTや高電圧MOSFETで既に実施されている取り組みを拡張する形で、試験上の課題が生じているケースもあります。
テラダインのパワーディスクリート・テスト製品担当プロダクトマネージャー、トム・トラン氏が、ワイドバンドギャップデバイスのテストにおける課題の概要と、それらに対処するための戦略について解説します。
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