VXIアナログ計測器
高度な並列テスト機能を備えたアナログ測定器により、テストの処理速度が向上します。
Ai-710は、Core System Instrument（CSi）と呼ばれる、シングルスロット型の多機能VXIアナログ試験装置です。これにより、最新の被試験装置（UUT）に対して十分な試験カバレッジを提供できないことが多い、複数の独立した試験装置を用意する必要がなくなります。また、シングルスロット型のVXIフォームファクタを採用しているため、試験装置の設置面積も削減できます。
本装置の機能には、デジタルマルチメータ（DMM）、ファンクションジェネレータ、波形発生器、デジタイザ、およびタイマ／カウンタが含まれます。ピンごとのマルチチャネル・テスター・アーキテクチャにより、被測定装置（UUT）の複数のポートを並列にテストすることができ、スループットを向上させます。
こうした機能の組み合わせにより、既存の試験システムをアップグレードしている防衛・航空宇宙分野のシステムインテグレーターにとって、理想的なアナログ計測器となっています。これらすべてが相まって、試験性能の向上、スループットの高速化、試験装置の設置面積の削減、そしてレガシーATEの試験コスト削減を実現します。
メリット
ピン単位のテスターアーキテクチャ。
すべてのチャネルで独立した刺激/測定機能を提供し、インターフェース・テスト・アダプタ（ITA）の設計を大幅に簡素化し、マトリックススイッチングの必要性を排除します。
並列システム信号エミュレーション。
システム全体の伝達関数テストを含むリアルタイム信号エミュレーションを実現し、被試験装置（UUT）のチャネル間の相互作用に起因する問題を特定することで、テストの全体的な品質を向上させます。
従来のアナログ計測器の物理的な統合。
各テスト・チャネルで高密度なアナログ機能を実現しつつ、テスト・システムの設置面積を削減します。
市販品（COTS）アーキテクチャ。
既存のATEシステムの柔軟性、構成の自由度、信頼性を向上させ、テストの複雑化に伴う要求に対応するとともに、ライフサイクルコスト全体を削減します。
信頼性と耐環境性。
高密度実装と、衝撃・振動試験を含む厳格な品質管理により、最も過酷な艦載環境やモバイル環境においても、平均故障間隔（MTBF）の短縮を実現しています。
世界中でのサポート。
提供されるサポートサービスには、不良部品の24時間修理・返送サービス、ホットラインによる電話サポート、および包括的なトレーニングとドキュメントが含まれます。
用途
ATEシステムのアップグレードに最適です。
防衛・航空宇宙分野で使用されている既存のATEシステムをアップグレードし、個別のマルチスロット計測機器を単一のVXI計測器に統合することで、工場や整備工場におけるWRA/LRU被試験装置（UUT）の試験カバレッジを向上させ、進化し続ける、かつ通常はより厳しい技術的試験要件に対応します。
設定
あらゆるシステムアップグレードの要件に対応する、多彩な構成をご用意しています。
Ai-710：32チャンネル、各チャンネルにファンクションジェネレータ、任意波形発生器、デジタイザ、DMM、リミット検出器、タイマ・カウンタを搭載