マルチパネル・バウンダリスキャン
バウンダリスキャン・ソリューション
IEEE規格 1149.1 および 1149.6
バウンダリー・スキャン（IEEE規格1149.1および1149.6）は、半導体メーカーが製造するデバイスにテスト性を組み込むことを可能にする技術である。
テラダインは、開発者向けに以下のバウンダリスキャン・テスト・オプションを用意しています：
- BasicSCANおよびScan Pathfinderは、TestStation ・テスト・システムに標準搭載されています
- 一部のベンダーから、パートナーシップによるベンチトップ型バウンダリスキャンソリューションが提供されています
BasicSCANテストは、テスター用プローブを使用してデバイスのピン間の断線を検出する方式を採用しているため、テスターがデバイスのピンの大部分にアクセスできるテスト環境向けに設計されています。
テスト生成機能と特徴：
- 業界標準のBSDL形式、TestStationシンプルなIBSファイル形式のいずれかで、デバイスのバウンダリスキャン記述情報をインポートする機能
- デバイスのバウンダリスキャン情報を簡単に入力・変更できるグラフィカルユーザーインターフェース
- BasicSCANのユーザーインターフェースに入力された情報からBSDLモデルを生成する機能
- 命令レジスタのキャプチャ値が正しいか、およびレジスタの長さが適切かを確認します
- オプションコンポーネントのIDCODEおよびUSERCODEの値を確認します
- 固定されたデバイスのピンにおけるオープン故障を検出します
- オプションのRUNBIST命令をサポートするコンポーネントの内部ロジックをチェックします
- ボード上の他のコンポーネントをテストしている間、境界スキャン・コンポーネントの電源を遮断する方法をテスト・ジェネレータに指示するアイソレーション・セクションを自動的に生成する
- ピン単位の正確な診断メッセージ
- 強力なデジタルテスト言語機能を備えているため、複雑な配線構成に対応するためにユーザーによる変更は不要です
テスト生成機能：
- 複数のスキャンパスを持つボードへの対応
- 検出されたスキャンパス構成に基づくバウンダリスキャン・テストプログラムの自動生成
- 従来のインサーキット・テストの実行中に、すべてのバウンダリスキャン・デバイスを無効化するために使用できるアイソレーション・ベクトルの自動生成
- UserOption設定によるバウンダリスキャン・テストプログラムのカスタマイズ機能
- ハードウェアテスト
- テストを開始
- 相互作用テスト
- 相互接続試験
- 短縮版CAPテスト
- BISTテストを実行する
- バーチャル・デジタル・テスト
- グラフィカルなレポート概要ウィンドウまたはテキストファイルとして表示できる包括的なテストレポート
- 独立したバウンダリスキャン実行時診断タスクにより、デバイスおよびピンレベルの診断メッセージの正確性が確保されます
Symphony（JTAG Technologies）
Symphonyは、JTAG Technologies社と提携して開発された高度なバウンダリスキャンソリューションであり、TestStationをご利用のメーカー向けに特別に設計されています。
ScanExpress（Corelis）
ScanExpressは、基本的な短絡・断線・不良・欠落などの不具合の検査や、基板上のメモリおよびCPLDのインシステム・プログラミングを行うために使用される、広く普及しているJTAGテスト開発・実行ツールです。
SCANFLEX / CASCON GALAXY（GOEPEL electronic）
GOEPEL electronicは、専用設計のSCANFLEXデバイスとJTAG/バウンダリスキャンシステムソフトウェア「CASCON GALAXY」TestStation 向けの統合ソリューションを提供しています。
