System Level Test (SLT) 旧版

技術が進歩するにつれて、テストの要件も変化します。例えば、今日のAIデバイスには数十億個のトランジスタが搭載されている場合があります。プロセスノードの微細化が進むにつれ、ATEによる故障検出率が99.5%であっても、テストされていないトランジスタが多数残ってしまいます。SLTテストは、テストされていない残りの0.5%のトランジスタに含まれる故障を検出します。

複雑な技術の進展に伴い、SoC（システム・オン・チップ）、SIP（システム・イン・パッケージ）、およびソフトウェアの複雑さが増しています。この複雑さにより、非同期インターフェースが増加し、電源、クロック、熱の各ドメイン間、およびソフトウェアとハードウェア間の相互作用も増大しています。こうした相互作用により、ATE（自動試験装置）による99.5%の故障検出率を達成するための負担が増大しています。SLTは、複雑なインターフェースをテストするための、より簡単で低コストな方法を提供します。 さらに、デバイスを実稼働モードで動作させることで、障害が発生する可能性のある複雑な相互作用をテストします。

デバイスメーカーが直面するもう一つの課題は、市場投入までの期間の短縮と、新デバイスプロセスにおける欠陥率の上昇です。その結果、プロセスの欠陥率が高いまま製品を出荷せざるを得なくなり、高品質な製品を出荷するためには欠陥を特定する必要が生じます。SLTを活用することで、エンジニアはデバイス開発の初期段階で欠陥検出率の向上を実現できます。このデータは、最終的なプロセス歩留まりの改善を待つ必要がなくなるため、良好な歩留まりを達成するまでの時間を短縮し、市場投入までの全体的な期間を短縮する上で極めて重要です。

最後に、IC設計者は最先端のプロセス技術やパッケージ技術の進展を活用しつつあります。こうした進展は期待に満ちたものであり、不可欠なものですが、同時に潜在的な不具合や新たな故障モードが発生する可能性も高めています。SLTは、デバイスが出荷される前に潜在的な不具合を検出する機能を備えており、デバイスの総コストを低減します。