ブログ

読み込み中...

記事の代表画像

ツール

テラダインの「PortBridge」:設計からテストまでのプロセスを簡素化

    テストに至るまでの道のり 集積回路(IC)を設計からテストに至るまで進めるのは、次のような多くのステップを含む骨の折れるプロセスです。テスト対応設計(DFT):プロセス...

記事の代表画像

Wi-Fi

ワイヤレス

コネクティビティの未来は、より高速なデータ通信とマイクロポジショニングにある

最近では、世界中でワイヤレス接続が利用できることを当たり前のように感じがちです。カフェにいても、ホテルの部屋にいても、あるいは高度35,000フィートの機内にいても、おそらく……

記事の代表画像

システムレベル試験

RF試験機器を統合した業界初の完全自動化システムレベル試験プラットフォームの実用事例

System Level Test (SLT) 、被試験デバイス(DUT)を、その最終的な使用環境に極めて近い条件下で試験System Level Test (SLT) 。SoCやSIPの複雑化が進む一方で、ますます高度化する...

記事の代表画像

ワイヤレス

ワイヤレステストの未来は「オーバー・ザ・エア」にある

無線試験手法に対する新たなニーズ ミリ波技術の導入は5Gの展開と密接に関連しており、通信速度の向上に関する初期の結果は驚くべきものです。例えば、...

記事の代表画像

ワイヤレス

5Gへの大規模な移行が進行中だ

ワイヤレス技術の歴史をざっと振り返る――5Gに至るまでの道のり 10年ごとに数多くの技術革新が起こりますが、50年以上にわたるワイヤレス技術の変遷が積み重ねてきた影響は……

記事の代表画像

テスト戦略

テストソリューション開発における実行リスクの最小化

テスト開発プロジェクトは、さまざまな工学分野が融合した、複雑で相互依存性の高いエコシステムを形成しています。リスクとそれがプロジェクト全体に及ぼす影響を評価する能力は、...

記事の代表画像

演算

テスト戦略

ゲート・オール・アラウンド時代の半導体テスト:SemiCon Korea 2022

過去2年間、人工知能、自然言語処理、自動運転車などの技術進歩を原動力として、半導体業界はかつてないほどの成長を遂げてきました。

記事の代表画像

システムレベル試験

システムレベルテスト入門:ホワイトペーパー

半導体の微細化が進み、チップやパッケージの複雑さが増すにつれ、System Level Test (SLT) の重要性はますます高まっています。T社のシステムアーキテクトであるピーター・ライチャート氏は…

記事の代表画像

演算

テスト戦略

ストリーミング・スキャン・ネットワークおよびIEEE 1149.10を用いた高速スキャン試験:ITC 2021

高度なプロセス技術の進展により、テストデータが急速に増加しており、より高速なテストを実現するための新たなアプローチが求められています。テラダインの製品マーケティングマネージャー、エド・センが概要を解説します...

記事の代表画像

演算

テスト戦略

イメージセンサーデバイスにおける空間的な斑点の検出:SemiCon West 2021

イメージセンサーデバイスにおいて最もよく見られる欠陥の一つは、空間的な斑点です。イメージセンサーに斑点が生じることは頻繁にあり、内部の移動によって引き起こされる場合があります……

カテゴリー

  • 3戦3勝
  • AI・データセンター
  • アナリティクス
  • 自動車
  • 演算
  • CPO
  • エンジニアリングの生産性
  • 環境
  • イメージセンサー
  • メモリ
  • 光学
  • 電力
  • シリコンフォトニクス
  • ソフトウェアツール
  • 持続可能性
  • システムレベル試験
  • テストセル
  • テスト戦略
  • ツール
  • Wi-Fi
  • ワイヤレス

テラダインのブログを購読する