半導体トランジスタの微細化が進み、チップの複雑さが飛躍的に増大する中、高品質な製品のみを市場に送り出すためには、半導体テストが不可欠となっています。許容品質水準（AQL）の基準がより厳格化されるにつれ、これらの基準を満たすためにテスト手法は絶えず進化しなければなりません。また、system level test (SLT) 従来のテスト手法を用いた